[发明专利]用于对试样进行热分析的测量装置和方法有效
| 申请号： | 201910454019.6 | 申请日： | 2019-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN110568008B | 公开（公告）日： | 2022-05-17 |
| 发明（设计）人： | A·辛德勒 | 申请（专利权）人： | 耐驰-仪器制造有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20 |
| 代理公司： | 北京市路盛律师事务所 11326 | 代理人： | 张瑾;刘世杰 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于对试样(P)进行热分析的测量装置，其具有坩埚(10)以及传感器(20)，坩埚用于使试样(P)支承在坩埚(10)中，传感器用于测量布置在传感器(20)上的坩埚(10)中的试样(P)的试样温度。为了降低由于化学或物理反应对使用的构件造成损害、甚至破坏的风险，根据本发明设置成，该测量装置还具有在坩埚(10)和传感器(20)之间加入的垫片组件(30)，其具有接触坩埚(10)的由第一材料构成的第一层(30‑1)和接触传感器(20)的由与第一材料不同的第二材料构成的第二层(30‑2)。此外，本发明提出在使用这种测量装置的情况下进行的用于对试样(P)进行热分析的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 试样 进行 分析 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.用于对试样进行热分析的测量装置，其具有：/n-坩埚(10)，所述坩埚用于使试样(P)支承在坩埚(10)中，/n-传感器(20)，所述传感器用于测量布置在所述传感器(20)上的坩埚(10)中的试样(P)的试样温度，/n其特征在于，所述测量装置还具有在所述坩埚(10)和所述传感器(20)之间加入的垫片组件(30)，其具有接触所述坩埚(10)的由第一材料构成的第一层(30-1)和接触所述传感器(20)的由与第一材料不同的第二材料构成的第二层(30-2)。/n
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