[发明专利]用于对样本进行热分析的测量装置和方法有效
| 申请号： | 201910484970.6 | 申请日： | 2019-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN110568009B | 公开（公告）日： | 2022-06-17 |
| 发明（设计）人： | A·辛德勒 | 申请（专利权）人： | 耐驰-仪器制造有限公司 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20 |
| 代理公司： | 北京市路盛律师事务所 11326 | 代理人： | 张瑾;刘世杰 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于对样本(P)进行热分析的测量装置，其具有坩埚(10)以及传感器(20)，坩埚用于使样本(P)支承在坩埚(10)中，传感器用于测量布置在传感器(20)上的坩埚(10)中的样本(P)的样本温度。为了在这种测量装置以及借助其执行的用于热分析的方法中实现测量的高度可重现性，根据本发明的测量装置具有用于坩埚(10)的防转动保护(19、21)，以便在坩埚(10)布置在传感器(20)上时设定坩埚(10)相对于传感器(20)的预定转动位置。此外，本发明提出在使用这种测量装置的情况下进行的用于对样本(P)进行热分析的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 样本 进行 分析 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.用于对样本进行热分析的测量装置，其具有：/n-坩埚(10)，所述坩埚用于使样本(P)支承在坩埚(10)中，/n-传感器(20)，所述传感器用于测量布置在所述传感器(20)上的坩埚(10)中的样本(P)的样本温度，/n其特征在于，具有用于所述坩埚(10)的防转动保护，以便在所述坩埚(10)布置在所述传感器(20)上时设定所述坩埚(10)相对于所述传感器(20)的预定转动位置。/n
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