[发明专利]一种高频主轴的回转精度动态测试装置以及该装置的使用方法在审

专利信息
申请号: 201910441040.2 申请日: 2019-05-24
公开(公告)号: CN111982035A 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 郭淼现;叶逸;江小辉;丁子珊 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00;G01B21/02;G01B21/20
代理公司: 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 代理人: 郁旦蓉
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种高频主轴的回转精度动态测试装置,包括:至少两个测试部以及连接部,测试部包括底板;底座,设置在底板上,具有第一凹槽,该第一凹槽内设置有第一光杆,该第一光杆沿第一水平方向延伸,具有第一端部和第二端部;滑台,套设在第一光杆上;第二光杆,具有第三端部和第四端部,第三端部固定在滑台上,第二光杆沿第二水平方向延伸,该第二水平方向和第一水平方向垂直;传感器支架,套设在滑台以及第二光杆上;第一千分尺,设置在底座上,并且靠近第一端部;第二千分尺,设置在滑台上,并且靠近第四端部;位移传感器,设置在传感器支架上,相邻测量部之间通过连接部垂直连接在一起。
搜索关键词: 一种 高频 主轴 回转 精度 动态 测试 装置 以及 使用方法
【主权项】:
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