[发明专利]一种高频主轴的回转精度动态测试装置以及该装置的使用方法

权利要求书

1.一种高频主轴的回转精度动态测试装置，其特征在于，包括：

至少两个测试部以及连接部，

其中，所述测试部包括：

底板；

底座，设置在所述底板上，具有第一凹槽，该第一凹槽内设置有第一光杆，该第一光杆沿第一水平方向延伸，具有第一端部和第二端部；

滑台，套设在所述第一光杆上，用于沿所述第一光杆进行往复运动；

第二光杆，具有第三端部和第四端部，所述第三端部固定在所述滑台上，所述第二光杆沿第二水平方向延伸，该第二水平方向和所述第一水平方向垂直；

传感器支架，套设在所述滑台以及所述第二光杆上，用于沿所述滑台以及所述第二光杆进行往返运动；

第一千分尺，设置在所述底座上，并且靠近所述第一端部，用于推动所述滑台沿靠近所述第二端部的方向移动；

第二千分尺，设置在所述滑台上，并且靠近所述第四端部，用于推动所述传感器支架沿靠近第三端部的方向移动；

位移传感器，设置在所述传感器支架上，

相邻所述测量部之间通过所述连接部垂直连接在一起。

2.根据权利要求1所述的高频主轴的回转精度动态测试装置，其特征在于：

其中，相邻的所述测试部之间通过所述连接部卡合连接在一起。

3.根据权利要求1所述的高频主轴的回转精度动态测试装置，其特征在于：

其中，所述测试部还包括弹簧组件，该弹簧组件包括第一弹簧和第二弹簧，

所述第一弹簧套设在所述第一光杆上，并且设置在所述第一凹槽和所述滑台之间，靠近所述第二端部，

所述滑台具有滑台主体以及延伸段，所述第二光杆的所述第三端部固定在所述延伸段上，并且与所述滑台主体平行，

所述第二弹簧套设在所述第二光杆上，并且设置在所述延伸段和所述传感器支架之间，靠近所述第三端部。

4.根据权利要求1所述的高频主轴的回转精度动态测试装置，其特征在于：

其中，所述第一千分尺和所述第二千分尺均包括微分筒、千分尺旋钮支架以及测微螺杆，

所述测微螺杆为球型测微螺杆。

5.根据权利要求1所述的高频主轴的回转精度动态测试装置，其特征在于：

其中，所述第一千分尺和所述第二千分尺均包括千分尺旋钮支架，所述第一千分尺的所述千分尺旋钮支架设置在所述第一凹槽的中间位置，所述第二千分尺的所述千分尺旋钮支架设置在所述滑台的中间位置。

6.根据权利要求1所述的高频主轴的回转精度动态测试装置，其特征在于：

其中，所述测试部的数目为两个，即第一测试部和第二测试部，所述第一测试部和所述第二测试部设置在同一平面内，所述第一测试部的所述底板具有第一连接端，

所述第二测试部的所述底板具有第二连接端，所述连接部包括卡块和第二凹槽，

所述第二凹槽的一端设置在所述第一连接端上，另一端设置在所述第二连接端上，所述卡块的形状和大小与所述第二凹槽相匹配，所述卡块卡合在所述第二凹槽内，使得两个所述底板垂直连接在一起。