[发明专利]一种波面高度测量方法、终端设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 201910402017.2 申请日: 2019-05-15
公开(公告)号: CN110136114B 公开(公告)日: 2021-03-02
发明(设计)人: 刘春嵘;刘波 申请(专利权)人: 厦门理工学院
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/41;G06T7/62;G01F23/00;G01F23/292
代理公司: 厦门市精诚新创知识产权代理有限公司 35218 代理人: 何家富
地址: 361000 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明涉及一种波面高度测量方法、终端设备及存储介质,该方法中包括:S1:通过双目摄像头采集波面图像;S2:将第一图像划分为网格;S3:计算第二图像中与第一图像的网格配对的网格;S4:计算每对配对网格中的所有亮点对的像素坐标;S5:根据每对亮点对的像素坐标,计算该对亮点在镜头架坐标系(x’,y’,z’)下的空间坐标;S6:将亮点对坐标转变为测量坐标系(x,y,z)下的坐标;S7:采用插值算法计算波面的垂向坐标ζ(x,y)即为波面高度。本发明采用两个镜头采集三维波面的图像,可以同时测量出波面上多个点的三维坐标信息,从而得到波面上各点的高度。
搜索关键词: 一种 高度 测量方法 终端设备 存储 介质
【主权项】:
1.一种波面高度测量方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:通过双目摄像头采集波面图像;S2:将第一图像划分为网格,并记录其网格中心坐标为(x1(i),y1(i)),i为网格的编号;S3:计算第二图像中与第一图像的网格配对的网格,并记录对应的网格中心坐标(x2(i),y2(i));S4:计算每对配对网格中的所有亮点对的像素坐标;S5:根据每对亮点对的像素坐标,计算该对亮点在镜头架坐标系(x’,y’,z’)下的空间坐标;S6:将亮点对坐标从镜头架坐标系(x’,y’,z’)转变为测量坐标系(x,y,z)下的坐标;S7:根据所有亮点在测量坐标系下的坐标,采用插值算法计算波面的水平坐标点(x,y)的垂向坐标ζ(x,y)即为波面高度。
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