[发明专利]基于Gabor多特征提取和优选的复合轨枕孔隙缺陷识别方法

摘要

本发明公开了一种基于Gabor多特征提取和优选的复合轨枕孔隙缺陷识别方法。首先，基于复合轨枕对X射线的衰减特性，利用优选的检测系统参数对复合轨枕进行X射线透照检测，获得原始投影图像；然后，对原始射线图像进行预处理，包括行最小值降噪和模糊增强；接着，利用设计的Gabor滤波器组对射线图像进行多尺度多方向特征提取，并按照能量准则筛选得到孔隙缺陷特征突显的图像；之后，将特征图像向量化，并进行去均值和归一化，利用模糊C均值方法完成孔隙缺陷的聚类和分割；最后，使用形态学开闭运算，去除杂点与伪缺陷，计算缺陷几何特征参数，实现孔隙缺陷的定量识别。

主权项

1.一种基于Gabor多特征提取和优选的复合轨枕孔隙缺陷识别方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)原始射线图像采集：对复合轨枕进行X射线透照检测，获得原始射线图像；(2)图像预处理：对复合轨枕孔隙缺陷的原始射线图像分别进行增强和降噪；(3)缺陷特征提取与优选：利用设计的Gabor滤波器组对预处理后射线图像进行多尺度多方向滤波，并按照能量原则选取孔隙缺陷特征突显的滤波图像作为最终的特征图像；(4)缺陷特征聚类与分割：首先将孔隙缺陷突显的特征图像转变为特征向量，然后对特征向量进行零均值和归一化，最后利用模糊C均值聚类算法对特征向量进行聚类，完成对孔隙缺陷的分割；(5)图像后处理：对聚类结果图像联合使用形态学开闭运算，去除伪像素点，得到最终孔隙缺陷的二值图；通过计算孔隙缺陷的特征参数，判断孔隙缺陷尺寸是否超标，实现对孔隙缺陷的识别。