[发明专利]一种测量压接IGBT模块芯片电流的PCB罗氏线圈有效

专利信息
申请号: 201910341855.3 申请日: 2019-04-26
公开(公告)号: CN110133354B 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 梁琳;韩鲁斌 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00;H01F27/28;H01F38/24
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 曹葆青;李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种测量压接IGBT模块芯片电流的PCB罗氏线圈,包括:圆形PCB底板、凸台穿孔、测量线圈;多个凸台穿孔分布在圆形PCB底板上,分布的位置和大小与压接IGBT模块内部的凸台结构对应;测量线圈通过圆形PCB底板上下层走线和通孔形成多匝的线圈结构,均匀分布在每个凸台穿孔周围;PCB罗氏线圈嵌在压接IGBT模块内部的凸台结构之间,并叠加在压接IGBT模块内部的栅极走线PCB上;当凸台支路中流过变化的电流,在对应的测量线圈产生感应电势,通过对感应电势进行积分变换得到凸台支路的电流变化。本发明的PCB罗氏线圈可以测量任意位置支路的电流,提高电流测量精度,操作简单,且大大降低了压接IGBT模块并联支路的电流测量成本。
搜索关键词: 一种 测量 igbt 模块 芯片 电流 pcb 线圈
【主权项】:
1.一种测量压接IGBT模块芯片电流的PCB罗氏线圈,其特征在于,所述PCB罗氏线圈嵌在所述压接IGBT模块内部的凸台结构之间,并叠加在所述压接IGBT模块内部的栅极走线PCB上;所述PCB罗氏线圈包括:圆形PCB底板、凸台穿孔、测量线圈;多个所述凸台穿孔分布在所述圆形PCB底板上,分布的位置和大小与所述压接IGBT模块内部的凸台结构对应;所述测量线圈通过所述圆形PCB底板上下层走线和通孔形成多匝的线圈结构,均匀分布在每个凸台穿孔周围,用于测量凸台电流。
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