[发明专利]一种基于均值漂移算法的荧光串扰校正方法及其应用有效

专利信息
申请号: 201910099554.4 申请日: 2019-01-31
公开(公告)号: CN109859188B 公开(公告)日: 2021-04-06
发明(设计)人: 高鹏;夏江 申请(专利权)人: 领航基因科技(杭州)有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06K9/62
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 代理人: 陆惠中;王永伟
地址: 310000 浙江省杭州市江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 本本发明涉及机器学习技术领域,尤其涉及一种基于均值漂移算法的荧光串扰校正方法及其应用。所述基于均值漂移算法的荧光串扰校正方法包括以下步骤:S1:多通道荧光强度数据预处理;S2:基于均值漂移聚类计算不同通道聚类中心;S3:计算斜率,填充校正矩阵,得到修正后的荧光数据。本发明公开的校正方法可以避免采样荧光强度值时引入的人为误差,减少噪声对荧光强度的影响且可以准确快速地计算出校正矩阵的元素值,从而得到修正后的荧光数据,得到的荧光数据更真实且更准确。
搜索关键词: 一种 基于 均值 漂移 算法 荧光 校正 方法 及其 应用
【主权项】:
1.一种基于均值漂移算法的荧光串扰校正方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:多通道荧光强度数据预处理;S2:基于均值漂移聚类计算不同通道聚类中心;S3:计算斜率,填充校正矩阵,得到修正后的荧光数据。
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