[发明专利]发光二极管芯片的检验方法和装置有效
| 申请号： | 201910065085.4 | 申请日： | 2019-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN109919909B | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | 李鹏;张武斌;乔楠 | 申请（专利权）人： | 华灿光电（浙江）有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人： | 徐立 |
| 地址： | 322000 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种发光二极管芯片的检验方法和装置，属于半导体技术领域。所述检验方法包括：获取待检测芯片的图像；采用边缘检测模型处理所述待检测芯片的图像，从所述待检测芯片的图像中截取电极部分的图像；确定所述电极部分的图像与至少一个电极图像集合之间的相似度，每个所述电极图像集合包括至少一个电极图像，同一个所述电极图像集合中的各个所述电极图像之间的相似度均达到第一设定阈值；当所述电极部分的图像与所述电极图像集合之间的相似度达到所述第一设定阈值时，将所述电极部分的图像合并到所述电极图像集合中。本发明可提高检验的准确性和检验效率，特别满足工业生产的需求。 | ||
| 搜索关键词： | 发光二极管 芯片 检验 方法 装置 | ||
【主权项】：
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