[发明专利]一种用于二极管计数的图像处理方法与装置在审

专利信息
申请号: 201910020333.3 申请日: 2019-01-09
公开(公告)号: CN109859176A 公开(公告)日: 2019-06-07
发明(设计)人: 谢宏威;雷臻宇;骆佩文;贺香华;周聪 申请(专利权)人: 广州大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/155;G06T7/174;G06T7/62
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 颜希文;麦小婵
地址: 510000 广东省广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种用于二极管计数的图像处理方法,至少包括以下步骤:提取X光拍摄的二极管图像,得到待处理图像;根据固定阈值在待处理图像中进行第一全局阈值分割,获得第一图像;将第一图像进行第一连通域联合,获得第二图像,并对第二图像进行预处理,获得第三图像;将第三图像进行特征提取,得到二极管区域图像;对二极管区域图像进行全局阈值分割和区域个数统计,得到二极管个数N;其中,N为大于等于1的正整数。本发明提供的一种用于二极管计数的图像处理方法,能够解决传统的封装计数耗费人力时间的缺点,达到了计数时间快、精准度高的目的。
搜索关键词: 图像 二极管 图像处理 待处理图像 二极管区域 阈值分割 区域个数统计 预处理 特征提取 传统的 精准度 连通域 正整数 封装 全局 拍摄 联合
【主权项】:
1.一种用于二极管计数的图像处理方法,其特征在于,至少包括以下步骤:提取X光拍摄的二极管图像,得到待处理图像;根据固定阈值在所述待处理图像中进行第一全局阈值分割,获得第一图像;将所述第一图像进行第一连通域联合,获得第二图像,并对所述第二图像进行预处理,获得第三图像;将所述第三图像进行特征提取,得到二极管区域图像;对所述二极管区域图像进行全局阈值分割和区域个数统计,得到二极管个数N;其中,N为大于等于1的正整数。
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