[发明专利]透射型电子显微镜样品的制作方法在审
| 申请号： | 201880093642.7 | 申请日： | 2018-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN112204374A | 公开（公告）日： | 2021-01-08 |
| 发明（设计）人： | 佐佐木肇 | 申请（专利权）人： | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 何立波;张天舒 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在透射型电子显微镜的样品的制作方法中，在从被加工体即激光二极管切出包含多量子阱有源层(4)的长方体形状的块状体(27)后，制作出在块状体(27)的上表面的相邻的角部形成有能够对表面部有源层(10)进行辨识的倾斜斜切部(5、5a、5b)的样品(24)，然后将该样品(24)薄膜化，并且以倾斜斜切部(5、5a、5b)的能够辨识的2个表面部有源层(10)为基准切出观察用样品(28)。 | ||
| 搜索关键词： | 透射 电子显微镜 样品 制作方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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