[发明专利]半导体装置有效
申请号: | 201880088899.3 | 申请日: | 2018-02-23 |
公开(公告)号: | CN111712925B | 公开(公告)日: | 2023-07-04 |
发明(设计)人: | 林田哲郎;南條拓真;绵引达郎 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/336;H01L29/06;H01L29/12;H01L29/201 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 李今子 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明的半导体装置具备:支撑基板,具有第1主面及第2主面;第1导电类型的第1GaN层,设置于支撑基板的第1主面侧;第1导电类型的第2GaN层,设置于第1GaN层上;AlxGa1‑xN(0x1)层,设置于第2GaN层上;第2导电类型的第3GaN层,设置于AlxGa1‑xN(0x1)层上;第1导电类型的第4GaN层,设置于第3GaN层上;绝缘膜,至少覆盖第4GaN层上;沟槽栅极,从第4GaN层的上表面到达第2GaN层内;栅极电极,隔着栅极绝缘膜设置于沟槽栅极内;第1主电极,与第3GaN层连接;以及第2主电极,与第1主电极成对,第3GaN层的施主浓度低于第4GaN层的施主浓度。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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