[发明专利]晶相定量分析装置、晶相定量分析方法及晶相定量分析程序有效
申请号: | 201880050768.6 | 申请日: | 2018-05-18 |
公开(公告)号: | CN111033246B | 公开(公告)日: | 2023-07-14 |
发明(设计)人: | 虎谷秀穂;室山知宏 | 申请(专利权)人: | 株式会社理学 |
主分类号: | G01N23/2055 | 分类号: | G01N23/2055;G01N23/207 |
代理公司: | 北京瑞盟知识产权代理有限公司 11300 | 代理人: | 刘昕;孟祥海 |
地址: | 日本国东京都昭*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种晶相定量分析装置,能够更简便地进行包含多个晶相的样品的定量分析。该晶相定量分析装置包括:取得样品的粉末衍射图的单元;取得多个晶相的信息的单元;取得分别针对多个晶相的拟合函数的单元;使用这些拟合函数,对粉末衍射图执行全图拟合,取得其结果的单元;以及基于其结果计算多个晶相的重量比的单元,其中,各拟合函数从由第一拟合函数、第二拟合函数、第三拟合函数构成的组中选择,第一拟合函数使用通过全图分解得到的积分强度,第二拟合函数使用根据观察或计算的积分强度,第三拟合函数使用根据观察或计算的峰形强度。 | ||
搜索关键词: | 定量分析 装置 方法 程序 | ||
【主权项】:
暂无信息
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