[发明专利]晶相定量分析装置、晶相定量分析方法及晶相定量分析程序

权利要求书

1.一种晶相定量分析装置，其特征在于，通过样品的粉末衍射图对所述样品中包含的晶相进行定量分析，该晶相定量分析装置包括：

粉末衍射图取得单元，取得所述样品的粉末衍射图；

定性分析结果取得单元，取得所述样品中包含的多个晶相的各个晶相信息；

拟合函数取得单元，取得针对所述多个晶相的每个晶相的拟合函数；

全图拟合单元，使用针对所述多个晶相的每一个的所述拟合函数，对所述样品的所述粉末衍射图执行全图拟合，取得拟合结果；以及

重量比计算单元，基于所述拟合结果计算多个晶相的重量比，

其中，所述多个晶相的每一个的所述拟合函数分别为从由第一拟合函数、第二拟合函数、第三拟合函数构成的组中选择的1个拟合函数，所述第一拟合函数使用通过全图分解得到的积分强度，所述第二拟合函数使用根据观察或计算的积分强度，所述第三拟合函数使用根据观察或计算的峰形强度。

2.根据权利要求1所述的晶相定量分析装置，其特征在于，

所述重量比计算单元使用IC公式计算重量分数。

3.根据权利要求1或2所述的晶相定量分析装置，其特征在于，

针对所述多个晶相，从所述第一拟合函数至所述第三拟合函数中选择2种以上的拟合函数。

4.一种晶相定量分析方法，其特征在于，通过样品的粉末衍射图对所述样品中包含的晶相进行定量分析，该晶相定量分析方法包括：

粉末衍射图取得步骤，取得所述样品的粉末衍射图；

定性分析结果取得步骤，取得所述样品中包含的多个晶相的各个晶相信息；

拟合函数取得步骤，取得针对所述多个晶相的每个晶相的拟合函数；

全图拟合步骤，使用针对所述多个晶相的每一个的所述拟合函数，对所述样品的所述粉末衍射图执行全图拟合，取得拟合结果；以及

重量比计算步骤，基于所述拟合结果计算多个晶相的重量比，

其中，所述多个晶相的每一个的所述拟合函数分别为从由第一拟合函数、第二拟合函数、第三拟合函数构成的组中选择的1个拟合函数，所述第一拟合函数使用通过全图分解得到的积分强度，所述第二拟合函数使用根据观察或计算的积分强度，所述第三拟合函数使用根据观察或计算的峰形强度。

5.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有用于通过样品的粉末衍射图对所述样品中包含的晶相进行定量分析的晶相定量分析程序，所述晶相定量分析程序使所述计算机作为以下单元发挥作用：

粉末衍射图取得单元，取得所述样品的粉末衍射图；

定性分析结果取得单元，取得所述样品中包含的多个晶相的各个晶相信息；

拟合函数取得单元，取得针对所述多个晶相的每个晶相的拟合函数；

全图拟合单元，使用针对所述多个晶相的每一个的所述拟合函数，对所述样品的所述粉末衍射图执行全图拟合，取得拟合结果；以及

重量比计算单元，基于所述拟合结果计算多个晶相的重量比，

其中，所述多个晶相的每一个的所述拟合函数分别为从由第一拟合函数、第二拟合函数、第三拟合函数构成的组中选择的1个拟合函数，所述第一拟合函数使用通过全图分解得到的积分强度，所述第二拟合函数使用根据观察或计算的积分强度，所述第三拟合函数使用根据观察或计算的峰形强度。