[发明专利]瞬态稳定的绝缘体上硅场效应晶体管在审

专利信息
申请号: 201880032560.1 申请日: 2018-04-30
公开(公告)号: CN110663181A 公开(公告)日: 2020-01-07
发明(设计)人: 罗伯特·马克·恩格尔基尔克;凯特·巴尔格罗夫;克里斯多佛·C·墨菲;泰罗·塔皮奥·兰塔;西蒙·爱德华·威拉德 申请(专利权)人: 派赛公司
主分类号: H03K17/14 分类号: H03K17/14;H01L21/762;H03K17/0412;H03K17/0416;H03K17/042;H01L29/786;H01L29/00
代理公司: 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 刘雯鑫;杨林森
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 避免或减轻在绝缘体上硅(SOI)衬底特别是具有富陷阱层的SOI衬底中产生累积电荷的变化的集成电路(IC)。在一个实施方式中,FET被配置成使得在待机模式下,关断FET,同时保持与活动模式期间基本相同的V
搜索关键词: 在待机模式 活动模式 衬底 累积电荷 配置 绝缘体上硅 受保护区域 操作电压 电流状态 接触件 陷阱层 关断 可选 涓流 集成电路 中断 敏感 创建
【主权项】:
1.易受累积电荷影响并且在绝缘体上硅(SOI)衬底上制造的集成电路,所述集成电路包括至少一个场效应晶体管(FET),所述至少一个场效应晶体管具有V
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