[发明专利]用于测量物体的层厚的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201880029441.0 申请日: 2018-05-02
公开(公告)号: CN110914635B 公开(公告)日: 2022-01-28
发明(设计)人: 本杰明·利陶;乔凡尼·肖伯;斯蒂芬·克雷姆林 申请(专利权)人: 伊诺艾克斯有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 北京博雅睿泉专利代理事务所(特殊普通合伙) 11442 代理人: 石伟
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明描述一种用于测量物体的层厚的方法和设备。首先,提供具有一定层厚的物体。随后,执行至少两个测量步骤(Mi),其中分别地,将具有分配给相应测量步骤(Mi)的频带(Fi)中的频率(f)的电磁辐射入射到物体上。频带(Fi)是带宽(B)的不同分区。检测自物体的边界面发出的二次辐射并测定测量步骤(Mi)相关的测量信号。根据相应测量步骤(Mi)相关的频带(Fi),将测量信号合并成评估信号,由此确定基频并计算层厚。通过该方法,可以借助窄带测量步骤(Mi)实现大带宽(B)。这样就能克服公知方法的物理限制,并且提高测量精度。
搜索关键词: 用于 测量 物体 方法 设备
【主权项】:
暂无信息
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