[发明专利]一种低结温高耐压的GaN异质结场效应晶体管有效

专利信息
申请号: 201811592251.8 申请日: 2018-12-25
公开(公告)号: CN109671768B 公开(公告)日: 2021-08-17
发明(设计)人: 陈万军;李佳;肖立杨;李茂林;信亚杰;施宜军 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/10;H01L29/20;H01L29/778;H01L23/373
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 孙一峰
地址: 611731 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明设计功率半导体技术,具体的说是一种低结温高耐压的GaN异质结场效应晶体管。本发明的GaN异质结场效应晶体管,主要为通过在势垒层插入AlN区域来降低沟道峰值电场,进而达到增大耐压和减少散热的目的。另外,本发明采用导热特性良好的AlN作为器件的钝化层,不仅有助于抑制电流崩塌,还起到了加快散热的作用。本发明的优异效果为,提高了器件的反向耐压,改善了器件的输出特性,并降低了器件的沟道温度,从而抑制了电流崩塌和自热效应带来的危害。本发明尤其适用于具有高耐压能力和低沟道温度的GaN异质结场效应晶体管。
搜索关键词: 一种 低结温高 耐压 gan 异质结 场效应 晶体管
【主权项】:
1.一种低结温高耐压的GaN异质结场效应晶体管,从下到上依次包括层叠设置的SiC衬底(9)、GaN缓冲层(7)、GaN沟道层(5)、AlGaN势垒层(3)以及AlN钝化层(1);在AlGaN势垒层(3)两端的上表面,具有欧姆金属源极(11)和欧姆金属漏极(12),在AlGaN势垒层(3)中部的上表面,具有栅电极(10),所述栅电极(10)为肖特基接触;其特征在于,所述栅电极(10)正下方的AlGaN势垒层(3)上层,具有AlN势垒区域(2),且AlN势垒区域(2)还向靠近欧姆金属漏极(12)的一侧延伸;所述AlN势垒区域(2)用于减小沟道中的峰值电场、提高击穿电压并降低沟道温度;所述SiC衬底(9)和GaN缓冲层(7)之间还具有AlN成核层(8),AlN成核层(8)用于减小GaN缓冲层(7)与SiC衬底(9)之间因晶格失配而导致的界面张力;所述GaN缓冲层(7)和GaN沟道层(5)之间具有InGaN背势垒层(6),InGaN背势垒层(6)用于抑制电流崩塌效应;所述GaN沟道层(5)和AlGaN势垒层(3)之间具有AlN插入层(4),AlN插入层(4)与GaN沟道层(5)和AlGaN势垒层(3)一起形成二维电子气沟道。
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