[发明专利]基于固态纳米孔检测超低浓度分子标志物的方法及装置在审
| 申请号： | 201811521422.8 | 申请日： | 2018-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN109554452A | 公开（公告）日： | 2019-04-02 |
| 发明（设计）人： | 王德强;闫汉;周大明;殷博华;谢婉谊 | 申请（专利权）人： | 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 |
| 主分类号： | C12Q1/6869 | 分类号： | C12Q1/6869;G01N33/487 |
| 代理公司： | 北京元本知识产权代理事务所 11308 | 代理人： | 黎昌莉 |
| 地址： | 400714 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明属于DNA测序技术领域，公开了一种基于固态纳米孔技术检测超低浓度分子标志物的方法。该方法主要利用纳米孔两侧的盐浓度梯度来实现低浓度DNA、RNA分子的检测，具有高通量、周期短、信噪比较高、精度较高的优点，对疾病的早期检测和治疗具有重大的意义。同时，本发明还公开了一种SiNx薄膜固态纳米孔反应装置，该装置能够克服生物分子纳米孔的不稳定性和孔径不易控制性，还能改善了传统纳米孔检测装置信噪比低、易受外界环境干扰等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 固态纳米 分子标志物 纳米孔 孔检测装置 受外界环境 盐浓度梯度 不稳定性 传统纳米 反应装置 技术检测 生物分子 早期检测 高通量 控制性 信噪比 检测 疾病 治疗 | ||
【主权项】：
1.一种基于固态纳米孔检测超低浓度分子标志物的方法，其特征在于，所述方法使用了一种SiNx薄膜固态纳米孔反应装置，所述装置包括样品池(1)，SiNx薄膜基片(4)，SiNx薄膜将样品池分隔为顺式腔(2)和反式腔(3)，SiNx薄膜上有电击击穿的纳米孔(5)，连接顺式腔和反式腔的电极(6)和外接电源(7)；所述方法在检测样品前先用多级电流脉冲击穿法在SiNx薄膜上制备出纳米孔(5)，随后在纳米孔两侧的顺式腔(2)和反式腔(3)中形成盐浓度梯度，最后在样品池(1)两端施加电压驱使待测分子过孔从而产生离子阻塞电流脉冲信号，最后将采集到的信号进行分析以检索出目标分子。
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