[发明专利]基于固态纳米孔检测超低浓度分子标志物的方法及装置在审
| 申请号： | 201811521422.8 | 申请日： | 2018-12-12 |
| 公开（公告）号： | CN109554452A | 公开（公告）日： | 2019-04-02 |
| 发明（设计）人： | 王德强;闫汉;周大明;殷博华;谢婉谊 | 申请（专利权）人： | 中国科学院重庆绿色智能技术研究院 |
| 主分类号： | C12Q1/6869 | 分类号： | C12Q1/6869;G01N33/487 |
| 代理公司： | 北京元本知识产权代理事务所 11308 | 代理人： | 黎昌莉 |
| 地址： | 400714 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 固态纳米 分子标志物 纳米孔 孔检测装置 受外界环境 盐浓度梯度 不稳定性 传统纳米 反应装置 技术检测 生物分子 早期检测 高通量 控制性 信噪比 检测 疾病 治疗 | ||
1.一种基于固态纳米孔检测超低浓度分子标志物的方法，其特征在于，所述方法使用了一种SiNx薄膜固态纳米孔反应装置，所述装置包括样品池(1)，SiNx薄膜基片(4)，SiNx薄膜将样品池分隔为顺式腔(2)和反式腔(3)，SiNx薄膜上有电击击穿的纳米孔(5)，连接顺式腔和反式腔的电极(6)和外接电源(7)；所述方法在检测样品前先用多级电流脉冲击穿法在SiNx薄膜上制备出纳米孔(5)，随后在纳米孔两侧的顺式腔(2)和反式腔(3)中形成盐浓度梯度，最后在样品池(1)两端施加电压驱使待测分子过孔从而产生离子阻塞电流脉冲信号，最后将采集到的信号进行分析以检索出目标分子。
2.根据权利要求1所述的一种基于固态纳米孔检测超低浓度分子标志物的方法，其特征在于，SiNx薄膜在使用时先置于无水乙醇中浸泡10-15min对其窗口表面进行亲疏水性的处理。
3.根据权利要求1所述的一种基于固态纳米孔检测超低浓度分子标志物的方法，其特征在于，样品池内要注入由LiCl、Tris和EDTA混合液组成电解液。
4.根据权利要求3所述的一种基于固态纳米孔检测超低浓度分子标志物的方法，其特征在于，所述电解液的比例为LiCl：Tris：EDTA＝1M：10mM：1mM。
5.根据权利要求1所述的一种基于固态纳米孔检测超低浓度分子标志物的方法，其特征在于，顺式腔接地，两个储液腔室与计算机控制的源表keithley2450通过两根银电极形成一个闭合回路，于反式腔端施加电流脉冲，设置起始电流、步长、目标孔径来制备纳米孔。
6.根据权利要求1所述的一种基于固态纳米孔检测超低浓度分子标志物的方法，其特征在于，检测的分子标志物浓度范围为10nM-0.01fM。
7.根据权利要求1所述的一种基于固态纳米孔检测超低浓度分子标志物的方法，其特征在于，反式腔中盐溶液的浓度0.5M-5M。
8.根据权利要求1所述的一种基于固态纳米孔检测超低浓度分子标志物的方法，其特征在于，盐溶液为LiCl溶液。
9.根据权利要求1所述的一种基于固态纳米孔检测超低浓度分子标志物的方法，样品池两端的液体形成十倍的盐浓度梯度，反式腔的浓度大于顺势腔的浓度。
10.一种SiNx薄膜固态纳米孔反应装置，其特征在于，所述装置包括样品池(1)，SiNx薄膜基片(4)，SiNx薄膜将样品池分隔为顺式腔(2)和反式腔(3)，SiNx薄膜上有电击击穿的纳米孔(5)，连接顺式腔和反式腔的电极(6)和外接电源(7)；所述纳米孔大小为2-6nm。
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