[发明专利]一种大分辨率图像的缺陷检测方法及系统有效

专利信息
申请号: 201811482944.1 申请日: 2018-12-05
公开(公告)号: CN109671058B 公开(公告)日: 2021-04-20
发明(设计)人: 马卫飞;张胜森;郑增强 申请(专利权)人: 武汉精立电子技术有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06N3/04
代理公司: 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人: 赵伟
地址: 430070 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种大分辨率图像的缺陷检测方法及系统,该方法包括以下步骤:S1:采用一定大小的滑动窗口在缺陷图像上进行横向和纵向滑动,得到若干分区图像;S2:通过基于小分辨率图像训练得到的目标检测模型对每一个分区图像进行缺陷检测,得到一个描述目标检测框的结果集合,每一个目标检测框的检测结果包括该目标检测框内所包含的缺陷类型的概率分类值;S3:依次计算结果集合中相邻的两个目标检测框之间的欧式距离,当欧式距离小于窗口融合阈值时对两个目标检测框进行融合,取概率分类值最大的目标检测框作为缺陷检测结果;本发明通过滑动切分和窗口融合的方式实现大分辨率图像的缺陷检测,不会导致微小缺陷丢失,避免造成过检或漏检。
搜索关键词: 一种 分辨率 图像 缺陷 检测 方法 系统
【主权项】:
1.一种大分辨率图像的缺陷检测方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:采用滑动窗口在待测缺陷图像上进行横向和纵向滑动,将待测缺陷图像切割为多个分区图像,且若干次横向或纵向滑动所覆盖的分区图像的集合需覆盖整个缺陷图像;S2:通过基于小分辨率图像训练得到的目标检测模型对每一个所述分区图像进行缺陷检测,得到一个描述目标检测框的结果集合,每一个所述目标检测框的检测结果包括该目标检测框内所包含的缺陷类型的概率分类值;S3:依次计算所述结果集合中相邻的两个目标检测框之间的欧式距离,当所述欧式距离小于预设的窗口融合阈值时对两个目标检测框进行融合,以概率分类值最大的目标检测框作为缺陷检测结果。
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