[发明专利]一种光学测量光洁物体表面形貌的方法在审
| 申请号： | 201811338519.5 | 申请日： | 2018-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN109489578A | 公开（公告）日： | 2019-03-19 |
| 发明（设计）人： | 汤兆胜;尹浩 | 申请（专利权）人： | 江西兆九光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 上海脱颖律师事务所 31259 | 代理人： | 李强 |
| 地址： | 334199 江西*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光学测量光洁物体表面形貌的方法，包括以下步骤：对行进间的被测物进行制冷降温；使制冷后的所述被测物的表面起雾形成雾面；对起雾后的被测物的表面进行光照，通过摄像机收集经由所述雾面散射出的光线以形成扫描信息；将所述扫描信息经由计算机处理后重构出所述被测物的形貌。本发明利用低温物体表面遇到高湿环境容易形成雾态薄膜的原理，使结构光照射照到雾态薄膜时，确保光能发生散射。 | ||
| 搜索关键词： | 被测物 物体表面形貌 光学测量 扫描信息 散射 光洁 起雾 雾面 雾态 薄膜 形貌 计算机处理 低温物体 高湿环境 制冷降温 结构光 光能 重构 制冷 摄像机 光照 照射 行进 | ||
【主权项】：
1.一种光学测量光洁物体表面形貌的方法，其特征在于，包括以下步骤：对行进间的被测物进行制冷降温；使制冷后的所述被测物的表面起雾形成雾面；对起雾后的被测物的表面进行光照，通过摄像机收集经由所述雾面散射出的光线以形成扫描信息；将所述扫描信息经由计算处理后重构出所述被测物的形貌。
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