[发明专利]一种光学测量光洁物体表面形貌的方法

说明书

本发明公开了一种光学测量光洁物体表面形貌的方法，包括以下步骤：对行进间的被测物进行制冷降温；使制冷后的所述被测物的表面起雾形成雾面；对起雾后的被测物的表面进行光照，通过摄像机收集经由所述雾面散射出的光线以形成扫描信息；将所述扫描信息经由计算机处理后重构出所述被测物的形貌。本发明利用低温物体表面遇到高湿环境容易形成雾态薄膜的原理，使结构光照射照到雾态薄膜时，确保光能发生散射。

技术领域

本发明涉及一种光学测量光洁物体表面形貌的方法。

背景技术

随着计算机技术和光学成像技术的不断发展，用无接触的光学系统检测物体的尺寸已形成必然的技术发展趋势。

如图1所示，在用光学法检测物体的三维尺寸时，常用的方法之一就是人为的产生一束线结构光(光源99)，即光线呈一字线形状输出，这束线结构光打到被测物体96表面时，利用物体表面的散射，由镜头和摄像机98收集散射光的形状，再结合物件的移动，通过记录所有的扫描线的特征并经计算机97处理，重构出被测工件的三维结构。

然而，上述现有技术在测量一些镜面物体时，如透明的玻璃、镜面的金属件或其他材质，当结构光照射到镜面上时，光线遵循反射定律，摄像机在大多数情况下是收不到定向反射的光线的，可见，摄像机获取信息是有所遗漏的，这样也就不能正确测量出被测物体的形貌。

发明内容

本发明的目的之一是为了克服现有技术中的不足，提供一种光学测量光洁物体表面形貌的方法。

为实现以上目的，通过以下技术方案实现：

一种光学测量光洁物体表面形貌的方法，包括以下步骤：

对行进间的被测物进行制冷降温；

使制冷后的所述被测物的表面起雾形成雾面；

对起雾后的被测物的表面进行光照，通过摄像机收集经由所述雾面散射出的光线以形成扫描信息；

将所述扫描信息经由计算机处理后重构出所述被测物的形貌。

优选地，通过设置制冷机以对行进间的所述被测物进行制冷降温。

优选地，通过设置湿度控制器，在制冷后的所述被测物之后形成高湿度区域，以使得所述被测物经过所述高湿度区域后自身表面起雾并形成雾面。

优选地，通过线结构光对起雾后的所述被测物进行光照。

优选地，在进行光照处形成机器视觉检测区，并通过基于机器视觉检测的摄像机收集光照的所述扫描信息。

优选地，在所述机器视觉检测区之后设置加热区域，以对起雾的所述被测物加热进而使所述雾面消失。

优选地，所述加热区域内设有热风机。

本发明的有益效果包括：

本发明利用低温物体表面遇到高湿环境容易形成雾态薄膜的原理，使结构光照射照到雾态薄膜时，确保光能发生散射。利用本申请的方法，可以测量各种光学件的形貌，从而充分克服现有技术的缺失，形成独特的技术优势，且容易实现、成本低。

附图说明

图1为现有线结构光扫描物件装置的结构原理示意图。

图2为本发明光学测量光洁物体表面形貌方法的原理示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明进行详细的描述：

如图2所示，一种光学测量光洁物体表面形貌的方法，包括以下主要的步骤：

a.对行进间的被测物9进行制冷降温；

b.使制冷后的所述被测物9的表面起雾形成雾面；