[发明专利]半导体装置以及包含半导体装置的半导体系统有效
申请号: | 201811284034.2 | 申请日: | 2018-10-31 |
公开(公告)号: | CN109753454B | 公开(公告)日: | 2023-07-07 |
发明(设计)人: | 川西徹;寺沼整;平野政明 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
主分类号: | G06F12/16 | 分类号: | G06F12/16;G06F11/10;G06F13/40 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及半导体装置以及包含半导体装置的半导体系统。所述半导体装置包括:ECC解码器,其使用用于数据的错误检测码对所述数据执行诊断;ECC编码器,其针对与占构成所述数据的多个位的一部分的位范围等同的第一数据块生成错误检测码并且针对与占所述位的剩余部分的位范围等同的第二数据块生成错误检测码;以及诊断电路,其在所述ECC解码器尚未检测到所述数据中的错误时将所述数据的对应于所述第一数据块的一部分与用于生成所述第一错误检测码的所述第一数据块进行比较,并且将所述数据的对应于所述第二数据块的一部分与用于生成所述第二错误检测码的所述第二数据块进行比较。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 以及 包含 系统 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括:ECC(错误校正码)解码器,所述ECC解码器使用从发送电路发送的数据的错误检测码,来诊断是否在该数据中发生错误;ECC编码器,所述ECC编码器针对与占构成所述数据的多个位的一部分的位范围等同的第一分割数据块来生成第一错误检测码,并且针对与占构成所述数据的所述位的剩余部分的位范围等同的第二分割数据块来生成第二错误检测码;以及诊断电路,在由所述ECC解码器未检测到所述数据中的错误时,所述诊断电路将所述数据中的对应于所述第一分割数据块的一部分与用于在所述ECC编码器中生成所述第一错误检测码的所述第一分割数据块进行比较,并且将所述数据中的对应于所述第二分割数据块的一部分与用于在所述ECC编码器中生成所述第二错误检测码的所述第二分割数据块进行比较。
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