[发明专利]一种基于肖特基势垒的线偏振光检测器在审
| 申请号： | 201811202939.0 | 申请日： | 2018-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN109244157A | 公开（公告）日： | 2019-01-18 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 中山科立特光电科技有限公司 |
| 主分类号： | H01L31/0224 | 分类号： | H01L31/0224;H01L31/08;H01L31/108 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 528458 广东省中*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于肖特基势垒的线偏振光检测器,包括衬底层,所述衬底层的上方设置有第一电极层，所述第一电极层的上方设置有有机材料，所述有机材料的上表面设置有按序排列的第二电极、金属膜、第三电极层，第二电极与金属膜相连，金属膜与第三电极层相互间隔，所述金属膜为多个平行的金属条相互间隔形成缝隙制成；该基于肖特基势垒的线偏振光检测器，解决了现有光热探测器无法进行线偏振光探测的问题；通过在肖特基势垒的金属膜上设置梯形的缝隙或者孔洞从而使得入射的线偏振光能够产生很好的吸收特性，从而改变金属膜与有机材料所形成的肖特基结的肖特基势垒，通过检测肖特基势垒的变化，来反应线偏振光的特性。 | ||
| 搜索关键词： | 肖特基势垒 金属膜 线偏振光 检测器 有机材料 第二电极 第三电极 第一电极 衬底层 偏振光 孔洞 按序排列 吸收特性 肖特基结 反应线 金属条 上表面 光热 探测器 入射 平行 探测 检测 | ||
【主权项】：
1.一种基于肖特基势垒的线偏振光检测器,包括衬底层（1）, 所述衬底层（1）的上方设置有第一电极层（2），所述第一电极层（2）的上方设置有有机材料（3），其特征在于:所述有机材料（3）的上表面设置有按序排列的第二电极（6）、金属膜（4）、第三电极层（5），第二电极（6）与金属膜（4）相连，金属膜（4）与第三电极层（5）相互间隔，所述金属膜（4）为多个平行的金属条（7）相互间隔形成缝隙（8）制成。
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H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的，一个或多个电光源，如场致发光光源在结构上相连的，并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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