[发明专利]基于快速图形拟合算法的SV波形比对测试方法

摘要

本发明涉及一种基于快速图形拟合算法的SV波形比对测试方法，获取两条SV波形曲线的原始图形数据、对获取的原始图形数据和进行归一化处理、计算差值的均方根并迭代一个周期、进行插值、取两个最小点较小的一个作为插值所得到的点、进行m次插值计算、对拟合的两个SV波形计算差值均方根获取被测合并单元的采样误差。本发明使用的双向二分法快速插值方法，既满足图形快速拟合的需求，同时又考虑精度，对于80点采样的波形，仅仅通过10次插值就可以达到0.244微秒的计算精度，可以完全满足测量的精度需求。

主权项

1.基于快速图形拟合算法的SV波形比对测试方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、获取两条SV波形曲线的原始图形数据f[n]和g[n]；步骤2、判断原始图形数据f[n]和g[n]的数据队列是否超过两个完整的数据周期,如果否、转步骤1，如果是、转下一步；步骤3、对获取的原始图形数据f[n]和g[n]进行归一化处理，得到：和步骤4、对两条SV波形曲线归一化处理后的数据(和)计算差值的均方根，并迭代一个周期：k从0到T(T＝80)：步骤5、获取A′(Δt)[k]中的最小值设定为p；步骤6、对p点进行p+125和p‑125两处进行线性插值，获取两个数据队列fp+[n]和fp‑[n]；步骤7、以数据队列f_p+[n]和f_p‑[n]与基准数据队列计算差值的均方根并各自找到最小点，取两个最小点较小的一个作为插值所得到的点；步骤8、重复步骤6和7进行m次插值计算，m是迭代次数；步骤9、通过步骤8的插值计算获取的最小数据点就是两条SV波形曲线最佳重合点，该点与基准线起点的相位差即为要计算的两条SV波形曲线的相位差；步骤10、对拟合的两个SV波形计算差值均方根，获取被测合并单元的采样误差。