[发明专利]检测非制冷红外机芯图像像素缺陷点的方法有效
| 申请号： | 201811084548.3 | 申请日： | 2018-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN109360189B | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | 杨有让;崔保荣;王文建;张成;张曼;冯润韬;李虹明;王娅楠;王正强 | 申请（专利权）人： | 昆明北方红外技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00 |
| 代理公司： | 昆明祥和知识产权代理有限公司 53114 | 代理人： | 施建辉 |
| 地址： | 650217 云南省*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本发明一种检测非制冷红外机芯图像像素缺陷点的方法，包括：通过图像采集卡采集N帧机芯图像，读取采集的N帧机芯图像，对N帧机芯图像的灰度值进行分析以获得每一帧机芯图像的灰度信息；对N帧机芯图像对应像素灰度值取平均计算以得到平均图像；计算平均图像中像素坐标（x，y）的对比区中值差MedDif[x][y]和机芯当前状态的判断阈值BP，若MedDif[x][y]＞BP则该像素被判定为亮缺陷点，若MedDif[x][y]＜‑BP则该像素被判定为暗缺陷点，否则该像素被判定为不是像素缺陷点。本发明能客观、精准、快速地识别出图像上的缺陷点，能精确地判断每个缺陷点所占像素大小和缺陷点所在的位置坐标。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 制冷 红外 机芯 图像 像素 缺陷 方法 | ||
【主权项】：
1.一种检测非制冷红外机芯图像像素缺陷点的方法，其特征在于，其包括以下步骤：S1、通过图像采集卡采集N帧机芯图像，读取采集的N帧机芯图像，对该N帧机芯图像的灰度值进行分析以获得每一帧机芯图像的灰度信息，N为正整数；S2、对该N帧机芯图像对应像素灰度值取平均计算以得到一平均图像；S3、通过分析平均图像来判断机芯图像是否存在缺陷点，计算平均图像中像素坐标(x，y)的对比区中值差MedDif[x][y]和机芯当前状态的判断阈值BP，若MedDif[x][y]＞BP则该像素被判定为亮缺陷点，若MedDif[x][y]＜‑BP则该像素被判定为暗缺陷点，否则该像素被判定为不是像素缺陷点。
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