[发明专利]检测非制冷红外机芯图像像素缺陷点的方法

权利要求书

1.一种检测非制冷红外机芯图像像素缺陷点的方法，其特征在于，其包括以下步骤：

S1、通过图像采集卡采集N帧机芯图像，读取采集的N帧机芯图像，对该N帧机芯图像的灰度值进行分析以获得每一帧机芯图像的灰度信息，N为正整数；

S2、对该N帧机芯图像对应像素灰度值取平均计算以得到一平均图像；

S3、通过分析平均图像来判断机芯图像是否存在缺陷点，计算平均图像中像素坐标（x，y）的对比区中值差MedDif [x][y]和机芯当前状态的判断阈值BP，若MedDif [x][y]＞BP则该像素被判定为亮缺陷点，若MedDif [x][y]＜-BP则该像素被判定为暗缺陷点，否则该像素被判定为不是像素缺陷点；

在步骤S3中，判断坐标为（x，y）的像素是否属于缺陷点时，结合该像素周围15*15个像素区域的灰度值来判断，该区域称为坐标为（x，y）的像素的对比区；

利用公式VGray[x][y]=/N计算平均图像中坐标为（x，y）像素的灰度值，其中，Gray[n][x][y]为第n帧图像中坐标为（x，y）像素的灰度值，VGray[x][y]为平均图像中坐标为（x，y）像素的灰度值，n≤N；

将平均图像中像素坐标（x，y）的对比区内所有像素灰度值按照从小到大排序，并将排列在最中间的像素灰度值称为对比区中值Med[x][y]；

利用公式MedDif [x][y]= VGray[x][y]- Med[x][y]计算对比区中值差；

在步骤S3中，平均图像中像素坐标（x，y）的对比区内所有像素灰度值的平均值称为对比区平均值Aver[x][y]，平均图像中像素坐标（x，y）的对比区内所有像素灰度值的标准差定义为对比区均匀性Un[x][y]，平均图像中所有像素对应的对比区均匀性的平均值称为图像的平均均匀性Un_AVER：

其中：xmax代表图像水平像素的个数，ymax代表图像垂直像素的个数；

利用公式BP=8.196* Un_AVER计算判断阈值。