[发明专利]一种CMOS图像传感器的缺陷检测方法有效
| 申请号： | 201811044220.9 | 申请日： | 2018-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN109357687B | 公开（公告）日： | 2022-07-08 |
| 发明（设计）人： | 白丽莎;张悦强;叶红波;王勇 | 申请（专利权）人： | 上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人： | 吴世华;张磊 |
| 地址： | 201210 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种CMOS图像传感器的缺陷检测方法，包括：利用一含有CMOS图像传感器的工业相机采集一张灰卡图像；对灰卡图像进行预处理，获得灰度图；对灰度图中的各像素值进行数据移位处理，获得低位图像；对低位图像中的各像素值进行平均，获得图像均值；将低位图像中的各像素值分别与图像均值进行绝对值计算，获得差异图像；对差异图像中的各像素值进行标准差计算；当获得的标准差大于预设的标准差阈值时，判断CMOS图像传感器芯片存在低位图像底噪超标的缺陷。本发明能很好地解决对高精度图像传感器的测试需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 cmos 图像传感器 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种CMOS图像传感器的缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：利用一含有CMOS图像传感器的工业相机采集一张灰卡图像；步骤二：对灰卡图像进行预处理，获得灰度图；步骤三：对灰度图中的各像素值进行数据移位处理，获得低位图像；步骤四：对低位图像中的各像素值进行平均，获得图像均值；步骤五：将低位图像中的各像素值分别与图像均值进行绝对值计算，获得差异图像；步骤六：对差异图像中的各像素值进行标准差计算；步骤七：当获得的标准差大于预设的标准差阈值时，判断CMOS图像传感器芯片存在低位图像底噪超标的缺陷。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司，未经上海集成电路研发中心有限公司;成都微光集电科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201811044220.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种车辆行驶路径确定方法及装置
- 下一篇：一种水下组合导航系统试验舱装置
