[发明专利]一种防止弯折翘曲的叠层集成电路封装结构的封装方法在审
申请号: | 201811034307.8 | 申请日: | 2016-07-17 |
公开(公告)号: | CN109411365A | 公开(公告)日: | 2019-03-01 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 高锦 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/60 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 325600 浙江省温州市乐清*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明提供了一种防止弯折翘曲的叠层集成电路封装结构的封装方法,其包括:提供长宽尺寸相同的多个陶瓷片,将所述多个陶瓷片中的除最底层的其他陶瓷片开窗形成框型槽,并在除最顶层的其他陶瓷片的表面上形成线路层;叠置并烧结所述多个陶瓷片形成一体化陶瓷叠层;在陶瓷叠层内设置集成芯片;在陶瓷叠层的侧面形成点阵式焊盘,以电连接所有的线路层的端部;将陶瓷叠层接合至散热基板上,并根据实际需要在陶瓷叠层的侧面形成重分布线电连接所述焊盘和所述点阵式焊盘。本发明通过使用刚性构件防止了叠层封装的弯折翘曲。 | ||
搜索关键词: | 陶瓷叠层 陶瓷片 焊盘 翘曲 弯折 集成电路封装结构 点阵式 电连接 线路层 叠层 封装 侧面 叠层封装 刚性构件 集成芯片 散热基板 重分布线 接合 烧结 最底层 最顶层 叠置 开窗 框型 一体化 | ||
【主权项】:
1.一种防止弯折翘曲的叠层集成电路封装结构的封装方法,其包括以下步骤:提供一散热基板,并在该散热基板上形成多个焊盘;提供长宽尺寸相同的多个陶瓷片,将所述多个陶瓷片中的除最底层的其他陶瓷片开窗形成框型槽,并在除最顶层的其他陶瓷片的表面上形成线路层,所述线路层在相应的陶瓷片边缘露出端部;叠置并烧结所述多个陶瓷片形成一体化陶瓷叠层;在陶瓷叠层内设置集成芯片;在陶瓷叠层的侧面形成点阵式焊盘,以电连接所有的所述端部;将陶瓷叠层接合至所述散热基板上,并根据实际需要在陶瓷叠层的侧面形成重分布线电连接所述焊盘和所述点阵式焊盘;所述陶瓷叠层的每一层中可包括多个集成芯片,其中除最厚的芯片外其余芯片上方均设置有刚性构件,所述刚性构件的厚度等于最厚的芯片的厚度减去对应的较薄的芯片的厚度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造