[发明专利]制备非导电性材料样品的方法有效

专利信息
申请号: 201810939776.8 申请日: 2018-08-17
公开(公告)号: CN109001240B 公开(公告)日: 2021-04-13
发明(设计)人: 廖金枝;张兮;张南;华佑南;李晓旻 申请(专利权)人: 胜科纳米(苏州)有限公司
主分类号: G01N23/2202 分类号: G01N23/2202;G01N23/203;G01N23/2005
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 朱琳
地址: 215123 江苏省苏州市工业园区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种制备非导电性材料样品的方法,在样品表面镀膜后,在待观测区域作相应的减薄,此时,镶嵌材料表面是镀有导电材料的,在材料表面形成一个有效的电子通路,即在样品台和镶嵌材料表面有导电通路,使得后面的入射电子不能在材料表面会聚,而影响信号的收集。本发明所使用的方法简单、快速、有效的解决了现有的非导电性材料在SEM/EBSD检测过程中而产生的电子积聚,或者由于导电镀膜过厚而影响到信号(如背反射电子)的收集问题。
搜索关键词: 制备 导电性 材料 样品 方法
【主权项】:
1.一种制备非导电性材料样品的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:把非导电性材料镶嵌在透明镶嵌材料里;步骤二:把步骤一形成的样品进行表面镀膜,镀膜材料为金或铂或钯或碳或钨;步骤三:对步骤二形成的样品中待观测区域表面的镀膜材料减薄。
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