[发明专利]基于结构光的物体测量方法及电子设备有效

专利信息
申请号: 201810895586.0 申请日: 2018-08-08
公开(公告)号: CN109141293B 公开(公告)日: 2020-04-24
发明(设计)人: 刘鬯 申请(专利权)人: 深圳市银星智能科技股份有限公司
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26
代理公司: 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 代理人: 宋建平
地址: 518000 广东省深圳市龙*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及测量技术领域,特别是涉及一种基于结构光的物体测量方法及电子设备。基于结构光的物体测量方法应用于电子设备,该方法包括:获取投影图像,投影图像为结构光投影至物体对应的图像,结构光包括按照预设次序排列的若干条条纹图案;根据投影图像,确定投影并覆盖物体边缘的边缘条纹图案的宽度以及与边缘条纹图案相邻的相邻条纹图案在结构光的图案位置;根据边缘条纹图案的宽度、相邻条纹图案在结构光的图案位置以及扫描角公式,测量出物体的扫描角度。测量物体的位置时,电子设备向物体投影结构光,其测量速度快,无需带动光学组件旋转,相对而言,其降低了机械运动带来的测量误差,测量可靠。
搜索关键词: 基于 结构 物体 测量方法 电子设备
【主权项】:
1.一种基于结构光的物体测量方法,应用于电子设备,其特征在于,所述方法包括:获取投影图像,所述投影图像为所述结构光投影至所述物体对应的图像,其中,所述结构光包括按照预设次序排列的若干条条纹图案;根据所述投影图像,确定投影并覆盖所述物体边缘的边缘条纹图案的宽度以及与所述边缘条纹图案相邻的相邻条纹图案在所述结构光的图案位置;根据所述边缘条纹图案的宽度、所述相邻条纹图案在所述结构光的图案位置以及扫描角公式,测量出所述物体的扫描角度。
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