[发明专利]存储单元及其构成的存储阵列和OTP在审

专利信息
申请号: 201810840550.2 申请日: 2018-07-27
公开(公告)号: CN109087679A 公开(公告)日: 2018-12-25
发明(设计)人: 龚政;金建明;顾明;权力 申请(专利权)人: 上海华力集成电路制造有限公司
主分类号: G11C17/12 分类号: G11C17/12
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 焦天雷
地址: 201315 上海市浦东新区中国(上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种存储单元,该存储单元由一个NMOS组成;编程模式,该NMOS漏极接0V电压,NMOS栅极连接预设电压;读取模式,该NMOS漏极连接0V电压,NMOS栅极接电路电压。本发明还公开了一种由上述存储单元组成的存储阵列。本发明还公开了一种OTP,包括:供电电路连接行地址译码电路,存储单元阵列分别连接行地址译码电路、列地址译码电路和高速电流型放大电路;供电电路连接编程使能信号端,行地址译码电路连接读信号端,高速电流型放大电路连接该只读存储器输出端。本发明的存储阵列能节省了50%的阵列面积和33.3%的绕线复杂度。本发明的OTP即能减小版图面积又能增大设计余量。
搜索关键词: 存储单元 存储阵列 译码电路 供电电路连接 放大电路 高速电流 行地址 漏极 存储单元阵列 地址译码电路 只读存储器 编程模式 电路电压 读取模式 使能信号 预设电压 复杂度 连接行 列地址 面积和 输出端 信号端 减小 绕线 编程
【主权项】:
1.一种存储单元,其特征在于:该存储单元由一个NMOS组成;编程模式,该NMOS漏极接0V电压,NMOS栅极连接预设电压;读取模式,该NMOS漏极连接0V电压,NMOS栅极接电路电压。
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