[发明专利]具有内建自测功能的存储模块和存储部件有效
| 申请号： | 01818984.9 | 申请日： | 2001-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN1475015A | 公开（公告）日： | 2004-02-11 |
| 发明（设计）人： | 约翰·哈尔伯特;兰迪·搏内拉 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 刘炳胜 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种具有内建自测功能的存储部件包括存储器阵列。输入/输出接口耦合到存储器阵列并具有反馈回路。提供控制器以向存储器阵列传输存储器阵列测试数据，以便储存存储器阵列测试数据，并从存储器阵列读取存储器阵列测试数据。还提供比较寄存器以便将传输到存储器阵列的存储器阵列测试数据与从存储器阵列读取的存储器阵列测试数据相比较。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 自测 功能 存储 模块 部件 | ||
【主权项】：
1、一种具有内建自测功能的存储部件，包括：耦合到存储器阵列并具有反馈回路的输入/输出接口；控制器，其向输入/输出接口传输输入/输出测试数据，并从输入/输出接口的反馈回路接收输入/输出测试数据；和比较寄存器，将传输给输入/输出接口的输入/输出测试数据与从输入/输出接口接收的输入/输出测试数据进行比较。
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