[发明专利]半导体用超高纯钛溅射靶端面滚花工艺有效
申请号: | 201810809001.9 | 申请日: | 2018-07-20 |
公开(公告)号: | CN108994525B | 公开(公告)日: | 2020-08-11 |
发明(设计)人: | 姚力军;潘杰;王学泽;董志清 | 申请(专利权)人: | 宁波江丰电子材料股份有限公司 |
主分类号: | B23P9/02 | 分类号: | B23P9/02 |
代理公司: | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人: | 王术兰 |
地址: | 315000 浙江省宁波*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明提供了一种半导体用超高纯钛溅射靶端面滚花工艺,涉及半导体用超高纯钛溅射靶的技术领域,包括对靶材端面滚花;对靶材侧面滚花;对靶材端面和侧面的连接处R角滚花。本发明的目的在于提供一种半导体用超高纯钛溅射靶端面滚花工艺,制作专用的滚花刀头及刀柄,将靶材装夹在车床上,通过加工设备的运转及刀具对靶材的下压力,在靶材要求区域实现滚花纹,从而达到增加靶材表面附着力,防止靶材在溅射过程中堆积的多余离子脱落,导致损坏晶圆。 | ||
搜索关键词: | 半导体 高纯 溅射 端面 工艺 | ||
【主权项】:
1.一种半导体用超高纯钛溅射靶端面滚花工艺,其特征在于,包括:对靶材端面滚花;对所述靶材侧面滚花;对所述靶材端面和侧面的连接处R角滚花。
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