[发明专利]半导体用超高纯钛溅射靶端面滚花工艺有效

专利信息
申请号: 201810809001.9 申请日: 2018-07-20
公开(公告)号: CN108994525B 公开(公告)日: 2020-08-11
发明(设计)人: 姚力军;潘杰;王学泽;董志清 申请(专利权)人: 宁波江丰电子材料股份有限公司
主分类号: B23P9/02 分类号: B23P9/02
代理公司: 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 代理人: 王术兰
地址: 315000 浙江省宁波*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了一种半导体用超高纯钛溅射靶端面滚花工艺,涉及半导体用超高纯钛溅射靶的技术领域,包括对靶材端面滚花;对靶材侧面滚花;对靶材端面和侧面的连接处R角滚花。本发明的目的在于提供一种半导体用超高纯钛溅射靶端面滚花工艺,制作专用的滚花刀头及刀柄,将靶材装夹在车床上,通过加工设备的运转及刀具对靶材的下压力,在靶材要求区域实现滚花纹,从而达到增加靶材表面附着力,防止靶材在溅射过程中堆积的多余离子脱落,导致损坏晶圆。
搜索关键词: 半导体 高纯 溅射 端面 工艺
【主权项】:
1.一种半导体用超高纯钛溅射靶端面滚花工艺,其特征在于,包括:对靶材端面滚花;对所述靶材侧面滚花;对所述靶材端面和侧面的连接处R角滚花。
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