[发明专利]液晶器件相位调控特性测量装置和测量方法有效
| 申请号： | 201810798007.0 | 申请日： | 2018-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN109141828B | 公开（公告）日： | 2020-08-28 |
| 发明（设计）人： | 刘晓凤;彭丽萍;赵元安;李大伟;胡国行;朱美萍;邵建达 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种连续激光辐照下液晶器件相位调控特性测量装置和测量方法，所述的测量装置包括探测激光器、第一偏振分光镜、第一半波片、聚焦透镜、样品台、第二半波片、第二偏振分光镜、功率计和计算机，该方法通过探测激光的功率变化在线实时测量连续激光作用下液晶器件相位调控特性变化。该方法简单易行，可以准确评估不同激光参数作用对液晶器件相位调控特性的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 器件 相位 调控 特性 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种液晶器件相位调控特性的测量装置，其特征在于包括探测激光器(102)、第一偏振分光镜(103)、第一半波片(104)、聚焦透镜(105)、样品台(107)、第二半波片(108)、第二偏振分光镜(109)、功率计(110)和计算机(111)，上述部件的关系如下：待测的液晶器件(106)置于所述样品台(107)上，所述探测激光器(102)输出探测激光经所述的第一偏振分光镜(103)、第一半波片(104)、聚焦透镜(105)后辐照于所述液晶器件(106)表面，在探测激光经所述液晶器件(106)的反射光路上依次是所述的第二半波片(108)、第二偏振分光镜(109)、功率计(110)，所述的功率计(110)的输出端接所述计算机(111)的输入端，所述的连续激光(101)在所述液晶器件(106)前方辐照所述液晶器件(106)，所述的探测激光经过第一半波片(104)后，偏振态与液晶分子长轴成45°；探测激光经过第二半波片(108)后，偏振态与液晶分子的长轴成‑45°。
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