[发明专利]液晶器件相位调控特性测量装置和测量方法有效
| 申请号： | 201810798007.0 | 申请日： | 2018-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN109141828B | 公开（公告）日： | 2020-08-28 |
| 发明（设计）人： | 刘晓凤;彭丽萍;赵元安;李大伟;胡国行;朱美萍;邵建达 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 | 代理人： | 张宁展 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 液晶 器件 相位 调控 特性 测量 装置 测量方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种测量液晶器件相位调控特性的方法，其特征在于该方法包括下列步骤：
①将功率计(110)首先放置在聚焦透镜(105)后，开启探测激光器(102)，所述的功率计(110)测量并记录探测激光的功率为P0并输入计算机(111)；
②将所述功率计(110)放置在第二偏振分光镜(109)后，无连续激光加载时，所述功率计(110)探测的激光功率为P1；
③连续激光(101)辐照液晶器件(106)表面与所述的探测激光辐照的同一位置，所述功率计(110)示数无明显变化后的激光功率为P2并输入所述的计算机(111)；
④关闭所述连续激光(101)后，所述功率计(110)示数无明显变化后，记录激光功率为P3并输入所述的计算机(111)；
⑤所述计算机(111)按下列公式计算：
依次获得液晶器件在无连续激光加载、有连续激光加载、连续激光卸载后液晶器件的实时调控相位β1，β2，β3；
⑥改变所述连续激光(101)辐照功率或者时间，重复②～⑤，即可获得不同连续激光参数作用对液晶器件相位调控特性的影响。
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