[发明专利]一种法向测量装置及其标定方法有效
申请号: | 201810765649.0 | 申请日: | 2018-07-12 |
公开(公告)号: | CN108917604B | 公开(公告)日: | 2020-07-17 |
发明(设计)人: | 袁定新;雷斯聪;钱晨;朱忠良;赵维刚;熊艳艳 | 申请(专利权)人: | 上海航天设备制造总厂有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人: | 余岢 |
地址: | 200245 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明实施例提供了一种法向测量装置,包括:校平圆盘、角度位移台、标准量块以及激光测距传感器组件,其中:所述角度位移台位于待标定系统的工作台;所述校平圆盘安装至加工工具主轴,并下移至所述角度位移台上平面,通过调整所述角度位移台的角度对校平圆盘进行调平;所述角度位移台与所述校平圆盘间设置有标准量块;所述激光测距传感器组件包括四个激光测距传感器,分别向所述角度位移台发射激光,和向所述角度位移台上的标准量块发射激光,获取激光测距传感器的数值差与标准量块的高度;根据激光测距传感器的数值差与标准量块的高度计算出其射出的激光与所述角度位移台的上平面的夹角,用于对待标定系统进行标定。 | ||
搜索关键词: | 一种 测量 装置 及其 标定 方法 | ||
【主权项】:
1.一种法向测量装置,其特征在于,包括:校平圆盘、角度位移台、标准量块以及激光测距传感器组件,其中:所述角度位移台位于待标定系统的工作台;所述校平圆盘安装至加工工具主轴,并下移至所述角度位移台上平面,通过调整所述角度位移台的角度对校平圆盘进行调平;所述角度位移台与所述校平圆盘间设置有标准量块;所述激光测距传感器组件包括四个激光测距传感器,分别向所述角度位移台发射激光,和向所述角度位移台上的标准量块发射激光,获取激光测距传感器的数值差与标准量块的高度;根据激光测距传感器的数值差与标准量块的高度计算出其射出的激光与所述角度位移台的上平面的夹角,用于对待标定系统进行标定。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海航天设备制造总厂有限公司,未经上海航天设备制造总厂有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810765649.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。