[发明专利]嵌入式存储器测试方法在审
| 申请号： | 201810697560.5 | 申请日： | 2018-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN108899060A | 公开（公告）日： | 2018-11-27 |
| 发明（设计）人： | 谢晋春;辛吉升 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 戴广志 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种嵌入式存储器测试方法，包含：第1步，针对一个嵌入式存储器芯片，芯片上包含有多个容量相同的存储器；第2步，通过使用一个管脚PIN来定义是否对所有存储器操作；第3步，每个存储器的测试结果使用一个状态来表示；第4步，将所有存储器的最终测试结果输出到IO时，按照一个输出bit对应一个存储器的结果来定义输出。本发明针对包含有n个容量相同的存储器的芯片，其所有存储器的测试时间T基本同一个存储器的测试时间Tn差异不大，有效节省了测试时间，大大提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 嵌入式存储器 测试 芯片 输出 最终测试结果 存储器操作 测试效率 管脚 | ||
【主权项】：
1.一种嵌入式存储器测试方法，其特征在于：第1步，针对一个嵌入式存储器芯片，确定该芯片上包含有多个容量相同的存储器；第2步，通过使用一个管脚PIN来定义是否对所有存储器操作；第3步，每个存储器的测试结果使用一个状态来表示；第4步，将所有存储器的最终测试结果输出到IO时，按照一个输出bit对应一个存储器的结果来定义输出。
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