[发明专利]嵌入式存储器测试方法在审
| 申请号： | 201810697560.5 | 申请日： | 2018-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN108899060A | 公开（公告）日： | 2018-11-27 |
| 发明（设计）人： | 谢晋春;辛吉升 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 戴广志 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 存储器 嵌入式存储器 测试 芯片 输出 最终测试结果 存储器操作 测试效率 管脚 | ||
1.一种嵌入式存储器测试方法，其特征在于：
第1步，针对一个嵌入式存储器芯片，确定该芯片上包含有多个容量相同的存储器；
第2步，通过使用一个管脚PIN来定义是否对所有存储器操作；
第3步，每个存储器的测试结果使用一个状态来表示；
第4步，将所有存储器的最终测试结果输出到IO时，按照一个输出bit对应一个存储器的结果来定义输出。
2.如权利要求1所述的嵌入式存储器测试方法，其特征在于：所述第2步，使用一个管脚PIN或者几个管脚PIN的组合来进入BIST模式；或者是使用一组特定命令发送至芯片的相应管脚PIN来使芯片进入BIST模式；或者是使用前述方法的组合。
3.如权利要求1所述的嵌入式存储器测试方法，其特征在于：所述第2步，所述对管脚PIN的定义是，当管脚PIN为高电平时，表示芯片进入BIST模式，在此模式下能对存储器进行操作测试。
4.如权利要求1所述的嵌入式存储器测试方法，其特征在于：所述第2步中使用的管脚PIN能被复用。
5.如权利要求1所述的嵌入式存储器测试方法，其特征在于：所述第3步中，通过使用L代表测试结果为PASS，H代表测试结果为FAIL。
6.如权利要求1所述的嵌入式存储器测试方法，其特征在于：所述第4步中，定义输出bit同内部存储器FM的对应关系，bit1对应存储器FM1,bit2对应存储器FM2…,以此类推。
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