[发明专利]基于快速几何对准的PCB表面缺陷检测方法及装置

摘要

本发明公开了一种基于快速几何对准的PCB表面缺陷检测方法，采用机器视觉检测PCB表面缺陷，图像采集系统对待测PCB进行待测图像采集，基于快速几何对准方法进行PCB图像定位后进行缺陷识别。本发明提供一种能满足中小企业生产线检测效率要求的整机焊接检测系统平台方案设计，以低成本完成高质量焊接检测，适合中小企业检测。采用运动误差先验作为约束条件，进行快速特征点几何定位，降低误匹配和多区域分时检测，实现大面积PCB元件焊接检测。

主权项

1.一种基于快速几何对准的PCB表面缺陷检测方法，采用机器视觉检测PCB表面缺陷，其特征在于，包括如下步骤：步骤一，运动平台将待测PCB运送至待检测区域，图像采集系统对待测PCB进行待测图像采集，并将待测图像传输至上位机；步骤二，上位机对待测图像进行预处理，采用K近邻均值滤波法进行图像平滑滤波；用加权平均法进行图像灰度化；采用直方图均衡化方法增强图像对比度，强化图像边缘，突出图像细节；步骤三，PCB图像定位三‑1，从标准图像中通过SURF算法提取标准特征点；三‑2，通过标定将运动平台的机械误差转换为像素误差，根据机械误差的阙值范围确定像素误差阙值范围；三‑3，从待测图像中通过SURF算法提取待测特征点；三‑4，通过SURF算法对标准特征点与待测特征点进行匹配，得到匹配的特征点对；三‑5，计算三‑4中特征点对的欧氏距离；三‑6，通过三‑2中像素误差对三‑5中各特征点对的欧氏距离进行判定，欧氏距离不满足像素误差阙值范围的特征点对为无效匹配，满足像素误差阙值范围的特征点对为有效匹配；三＝7，将筛选出的有效匹配的特征点对采用最小二乘法计算待测图像相对标准图像的变换矩阵H：三‑8，提取变换矩阵H的h2、h5确定待测图像与标准图像的相对坐标位置关系；完成待测图像中PCB的定位；步骤四，上位机用BP神经网络算法进行缺陷识别；步骤五，上位机将缺陷识别结果输出至人机界面。