[发明专利]一种SAR干涉相位解缠参考点选取方法、设备及存储介质有效
| 申请号： | 201810572486.4 | 申请日： | 2018-06-06 |
| 公开（公告）号： | CN109001731B | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 罗京辉;杨志高;郑长利;成志强;王涌;李学仕;王晓霞 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 |
| 主分类号： | G01S13/90 | 分类号： | G01S13/90 |
| 代理公司： | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人： | 徐静 |
| 地址： | 610036 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及测绘科学或合成孔径雷达干涉测量技术领域。本发明针对如何确定可靠解缠参考点保证相位解缠精度的问题，提供一种SAR干涉相位解缠参考点选取方法、设备及存储介质；本发明计算待解缠的干涉图A的相干性，得到与干涉图A相同尺寸的相干图B；在相干图B中，以相干图B的图像中心为参考选取相干图B的子区域C；获取相干图B的子区域C中，相干性最大值对应的干涉点；计算所述子区域C的干涉点在干涉图A中对应的参考点P，该参考点P为解缠参考点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 sar 干涉 相位 参考 选取 方法 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种SAR干涉相位解缠参考点选取方法，其特征在于包括：计算待解缠的干涉图A的相干性，得到与干涉图A相同尺寸的相干图B；在相干图B中，以相干图B的图像中心为参考选取相干图B的子区域C；获取相干图B的子区域C中，相干性最大值Qxy对应的干涉点；计算所述子区域C的干涉点在干涉图A中对应的参考点P，该参考点P为解缠参考点。
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