[发明专利]一种SAR干涉相位解缠参考点选取方法、设备及存储介质

权利要求书

1.一种SAR干涉相位解缠参考点选取方法，其特征在于包括：

计算待解缠的干涉图A的相干性，得到与干涉图A相同尺寸的相干图B；

在相干图B中，以相干图B的图像中心为参考选取相干图B的子区域C；

获取相干图B的子区域C中，相干性最大值Q_xy对应的干涉点；

计算所述子区域C的干涉点在干涉图A中对应的参考点P，该参考点P为解缠参考点；

其中，所述子区域C是在相干图B中，以图像中心为参考选取m₁×m₂范围大小；

a和b表示相干图B的长和宽，取值正整数；和分别表示向下取整和向上取整符号；B_i,j表示子区域C中第1行，第1列的相干值；表示区域C中第m₁行，第m₂列的相干值；所述子区域C至少包含t个相干性大于阈值φ的干涉点；t小于等于子区域C中干涉点的数量；判断所述子区域C内干涉点数量是否小于等于t；若干涉点数量小于等于t，则重新选取子区域C；直至所述子区域C内干涉点数量大于t为止；

所述参考点P选取方法；其中x、y表示Q_xy对应区域C的行、列号；x，y是子区域C中相干性最大点对应的坐标，该坐标是以区域C为参考的。

2.根据权利要求1所述的选取方法，其特征在于所述Q_xy唯一时，参考点P为解缠参考点；当Q_xy不唯一，即参考点P为点的集合时，选取所述集合中离干涉图A图像中心最近的参考点作为解缠参考点。

3.根据权利要求1或2所述的选取方法，其特征在于选取相干图B的子区域C之前，计算相干图B之后设置相干性阈值φ，剔除相干图B中低于相干性阈值φ的干涉点；或者在选取相干图B的子区域C之后，获取相干性最大值Q_xy之前设置相干性阈值φ，剔除相干图B的子区域C中低于相干性阈值φ的干涉点。

4.基于权利要求3所述选取方法的相位解缠方法，其特征在于还包括采用传统的相位解缠方法，以所述参考点作为解缠参考点进行相位解缠。

5.一种存储介质，其中存储有多条指令，所述指令适用于由处理器加载并执行如权利要求1至4任意一项所述方法的步骤。

6.一种SAR干涉相位解缠参考点选取设备，其特征在于包括处理器，适于实现各指令；以及存储设备，适于存储多条指令，所述指令适于由处理器加载并执行上述权利要求1至4任意一项所述的方法。