[发明专利]一种SAR干涉相位解缠参考点选取方法、设备及存储介质

说明书

本发明涉及测绘科学或合成孔径雷达干涉测量技术领域。本发明针对如何确定可靠解缠参考点保证相位解缠精度的问题，提供一种SAR干涉相位解缠参考点选取方法、设备及存储介质；本发明计算待解缠的干涉图A的相干性，得到与干涉图A相同尺寸的相干图B；在相干图B中，以相干图B的图像中心为参考选取相干图B的子区域C；获取相干图B的子区域C中，相干性最大值对应的干涉点；计算所述子区域C的干涉点在干涉图A中对应的参考点P，该参考点P为解缠参考点。

技术领域

本发明涉及测绘科学或合成孔径雷达干涉测量技术领域，尤其是一种SAR干涉相位解缠参考点选取方法、设备及存储介质。

背景技术

合成孔径雷达干涉(SAR,Synthetic Aperture Radar)是一种主动式的对地观测技术，具有空间分辨率高，覆盖范围广等优点，可以全天时、全天候对地观测能力，并能穿云透雾，可以有效的弥补光学卫星测量的不足。近年来综合SAR成像原理和干涉技术，形成了干涉测量(InSAR)、差分干涉测量(DInSAR)、时间序列干涉测量等雷达干涉测量技术，在地形测图、地表形变监测、获取DEM等领域应用广泛。

在干涉测量中，一个关键的流程和步骤是进行相位解缠。相位解缠的精度直接决定最后获取的DEM或地表形变结果的精度，是InSAR主要误差来源之一。目前国内外学者已经提出了多种相位解缠的方法，均在一定程度上提高了解缠结果的精度。而在相位解缠中，解缠参考点的选取对相位解缠的精度有一定的影响，在过去学者们的研究中很少提及。

在目前的相位解缠方法中，参考点的选取通常通过人工手动选取一个参考点或指定一个固定的参考点(一般为图像起始点坐标)。通过人工选取参考点的方法费时费力，并且具有一定的主观性。指定一个固定参考点的方法，受制于指定参考点的相干性，解缠的质量高低又具有较大的不确定性。

如何确定一个可靠的解缠参考点，以保证相位解缠的精度，是一个值得研究的问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是：针对如何确定可靠解缠参考点保证相位解缠精度的问题，提供一种SAR干涉相位解缠参考点选取方法、设备及存储介质。

本发明采用的技术方案如下：

一种SAR干涉相位解缠参考点选取方法包括：

计算待解缠的干涉图A的相干性，得到与干涉图A相同尺寸的相干图B；

在相干图B中，以相干图B的图像中心为参考选取相干图B的子区域C；

获取相干图B的子区域C中，相干性最大值Q_xy对应的干涉点；

计算所述子区域C的干涉点在干涉图A中对应的参考点P，该参考点P为解缠参考点。

进一步的，所述Q_xy唯一时，参考点P为解缠参考点；当Q_xy不唯一，即参考点P为点的集合时，选取所属集合中离干涉图A图像中心最近的参考点作为解缠参考点。

进一步的，所述子区域C至少包含t个相干性大于阈值φ的干涉点；t小于等于子区域C的干涉点数量。

进一步的，所述子区域C是在相干图B中，以图像中心为参考选取m₁×m₂范围大小；

其中，a和b表示相干图B的长和宽，取值正整数；和分别表示向下取整和向上取整符号；B_i,j表示子区域C中第1行，第1列的相干值；表示区域C中第m₁行，第m₂列的相干值。