[发明专利]透明体表面缺陷提取及识别方法有效
申请号: | 201810476168.8 | 申请日: | 2018-05-17 |
公开(公告)号: | CN108665458B | 公开(公告)日: | 2022-02-01 |
发明(设计)人: | 袁巨龙;赵文宏 | 申请(专利权)人: | 杭州智谷精工有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/194;G06T7/30;G06T5/30;G06T5/00 |
代理公司: | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人: | 陈振华 |
地址: | 311121 浙江省杭州市余杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及透明体表面缺陷提取及识别方法。本发明的透明体表面缺陷提取及识别方法包括以下步骤:①采用中值滤波的方式对图像进行平滑处理,消除噪声;②缺陷提取;③缺陷判别。与现有技术相比,本发明的方法采用特定的算法步骤,对采集到的图像进行提取和识别,从而使对透明体的线检测方法兼具适用范围广、灵活性强、运行稳定、检测效率高和精度高的特点。通过搭建实验平台对该发明方法进行了实验,实验结果表明:用本发明方法检测处理一张5’的手机玻璃面板所需的时间为3s,误检率为1.58%,位置和外观尺寸缺陷检测精度可达10um,其他缺陷检测精度为20um。 | ||
搜索关键词: | 透明体 表面 缺陷 提取 识别 方法 | ||
【主权项】:
1.透明体表面缺陷提取及识别方法,其特征在于,包括以下步骤:①采用中值滤波的方式对图像进行平滑处理,消除噪声;②缺陷提取;③缺陷判别;所述步骤①中,中值滤波是采用一个含有奇数点滑动窗口,扫描整幅图像,将图像中间点用图像内各点的中间值代替,其表达式为:g(x,y)=Med{f(x‑k,y‑l)|(k,l∈W)},式中,f(x,y)为原始图像,g(x,y)为处理后的图像,W为二维模板;所述步骤②中,包括对透明体存在的尺寸缺陷、logo不良及各目标区域的位置缺陷进行提取的子步骤a和对透明体的刮痕、异物、缺损、裂纹、点、崩边/崩角缺陷进行提取的子步骤b;所述子步骤a是先利用Canny边缘检测算子提取出所检测透明体的边缘点,然后采取图像模板匹配比较法,将模板库中的标准图像与提取的图像进行匹配,即异或运算,判定该透明体是否存在尺寸缺陷、logo不良及目标区域的位置缺陷,并对目标区域位置进行确定;Canny算子求边缘点具体算法步骤如下:I.用高斯滤波函数,平滑图像以消除噪声;高斯函数为:
n表示滤波器窗口大小;II.用一阶差分卷积函数,计算梯度幅值和方向,以增强边缘;采用2X2模板计算平滑后图像在x和y方向的梯度幅值和方向,如下:
得出像素点的梯度幅值与方向分别如下:
III.对梯度幅值进行非极大值抑制;具体是:对每一个像素点沿着其梯度方向与相邻两像素进行对比,保留每个像素点上梯度强度的极大值,并将其他值删掉,使模糊的边界变得清晰;IV.用双阈值算法检测和连接边缘;具体是:将图像像素点与设定的阈值上下界进行比较,如果图像像素点大于阈值上界则认为必然是边界,称强边界;如果图像像素点小于阈值下界则认为必然不是边界,如果图像像素点介于阈值上界和阈值下界之间,则认为是候选项,称弱边界;将所有强边界进行连接;所述子步骤b是先采用局部动态阈值分割来分割图像的背景与目标区域,再利用形态学膨胀填补缺陷空洞,然后进行骨架提取实现缺陷结构的提取,最后进行骨架重构还原缺陷的本来面貌;所述局部动态阈值分割的过程如下:(1)将图像分为大小一样的m块;(2)分别计算每块子图像的分割阈值;(3)对每块子图像分别进行阈值分割,并最终将各块合并到一起完成整幅图像的分割;所述形态学膨胀处理的具体过程如下:(1)用nxn的结构元素,扫描图像的每一个像素;(2)用结构元素与其覆盖的二值图像做“与”操作,如果都为0,则图像的该像素为0,否则为1;所述骨架提取与重构的过程如下:(1)骨架提取可看成是多次腐蚀的结果,即利用结构元素C形作为探针,在二值图像gf(i,j)上进行位移扫描,当结构元素完全包含于二值图像gf(i,j)时,记录其所有原点所在的坐标,其数学运算表达式为:
(2)骨架重构是在提取到的骨架的基础上进行扩充,进一步还原缺陷的原始样貌,其表达式为:
式中,A(r)——半径为r的结构元素;N——
的最大值;
——膨胀操作;所述步骤③中,缺陷判别即根据步骤②中的子步骤a和子步骤b的提取结果对缺陷的类型和/或位置进行确定,具体是:根据子步骤a的提取结果直接确定尺寸、logo和位置缺陷的类型和缺陷区域;根据子步骤b所提取的缺陷的形状特征和光学特性,按照下表所列不同缺陷种类在图像中所表现的形状特征和光学特性确定刮痕、异物、缺损、裂纹、点、崩边/崩角缺陷;![]()
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州智谷精工有限公司,未经杭州智谷精工有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810476168.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。