[发明专利]沟槽金氧半导体元件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201810454543.9 申请日: 2018-05-14
公开(公告)号: CN109904232A 公开(公告)日: 2019-06-18
发明(设计)人: 陈劲甫 申请(专利权)人: 力祥半导体股份有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/423;H01L21/336;H01L21/28
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 吴志红;臧建明
地址: 中国台湾新竹县*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明提供一种沟槽金氧半导体元件及其制造方法,其中所述沟槽金氧半导体元件包括基底、第一介电层、第一下部电极、第二下部电极、第一上部电极与第二上部电极。基底具有沟槽。沟槽具有彼此相对的第一侧壁与第二侧壁。第一介电层设置于沟槽的表面上。第一介电层的顶部低于沟槽的顶部。第一下部电极设置于位在第一侧壁上的第一介电层上。第二下部电极设置于位在第二侧壁上的第一介电层上。第一上部电极设置于第一介电层上方的第一侧壁上。第二上部电极设置于第一介电层上方的第二侧壁上。第一下部电极、第二下部电极、第一上部电极、第二上部电极与基底于沟槽中彼此电性绝缘。所述沟槽金氧半导体元件可有效地减少处理数并降低制造成本。
搜索关键词: 介电层 上部电极 下部电极 金氧半导体元件 第二侧壁 第一侧壁 基底 有效地减少 彼此电性 彼此相对 制造成本 绝缘 制造
【主权项】:
1.一种沟槽金氧半导体元件,其特征在于,包括:基底,具有沟槽,且所述沟槽具有彼此相对的第一侧壁与第二侧壁;第一介电层,设置于所述沟槽的表面上,其中所述第一介电层的顶部低于所述沟槽的顶部;第一下部电极,设置于位在所述第一侧壁上的所述第一介电层上;第二下部电极,设置于位在所述第二侧壁上的所述第一介电层上;第一上部电极,设置于所述第一介电层上方的所述第一侧壁上;以及第二上部电极,设置于所述第一介电层上方的所述第二侧壁上,其中所述第一下部电极、所述第二下部电极、所述第一上部电极、所述第二上部电极与所述基底于所述沟槽中彼此电性绝缘。
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