[发明专利]T组件测试方法、装置及系统在审
| 申请号： | 201810385682.0 | 申请日： | 2018-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN108469552A | 公开（公告）日： | 2018-08-31 |
| 发明（设计）人： | 杨立仲;吴光胜;冯军正 | 申请（专利权）人： | 深圳市华讯方舟微电子科技有限公司;华讯方舟科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/28 | 分类号： | G01R27/28 |
| 代理公司： | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人： | 官建红 |
| 地址： | 518102 广东省深圳市宝*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明适用于产品测试技术领域，提供了一种T组件测试方法、装置及系统，所述T组件测试方法包括：发送第一控制指令给指令发生器，所述指令发生器根据所述第一控制指令分别发送时钟信号、锁存信号和数据信号给待测T组件，使所述待测T组件的移相状态为零；控制T组件测试仪器发送射频输入信号给所述待测T组件；在所述待测T组件根据所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数。本发明利用指令发生器来控制待测T组件的相位变化，测试精度高，并且可靠稳定，整个测试过程无需纯手动测试，自动化程度高，操作步骤简单，测试效率高，生产成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 组件测试 指令发生器 射频输入信号 装置及系统 待测信号 控制指令 发送 生产成本低 测试 测试过程 测试效率 产品测试 发送时钟 手动测试 数据信号 锁存信号 相位变化 性能参数 自动化 输出 | ||
【主权项】：
1.一种T组件测试方法，其特征在于，包括：发送第一控制指令给指令发生器，所述指令发生器根据所述第一控制指令分别发送时钟信号、锁存信号和数据信号给待测T组件，使所述待测T组件的移相状态为零；控制T组件测试仪器发送射频输入信号给所述待测T组件；在所述待测T组件根据所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数。
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