[发明专利]T组件测试方法、装置及系统

权利要求书

1.一种T组件测试方法，其特征在于，包括：

发送第一控制指令给指令发生器，所述指令发生器根据所述第一控制指令分别发送时钟信号、锁存信号和数据信号给待测T组件，使所述待测T组件的移相状态为零；

控制T组件测试仪器发送射频输入信号给所述待测T组件；

在所述待测T组件根据所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数。

2.根据权利要求1所述的T组件测试方法，其特征在于，在所述待测T组件根据所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数包括：

发送第二控制指令给所述指令发生器，所述指令发生器根据所述第二控制指令调整所述时钟信号、所述锁存信号和所述数据信号，使所述待测T组件的移相状态为预设移相度数；

在所述待测T组件根据所述预设移相度数和所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数。

3.根据权利要求1所述的T组件测试方法，其特征在于，还包括：

控制直流电源为所述指令发生器提供电压；

控制所述指令发生器对所述电压进行降压稳压处理并输送给所述待测T组件。

4.根据权利要求1所述的T组件测试方法，其特征在于，在所述发送第一控制指令给指令发生器之后，还包括：

接收所述指令发生器发送的反馈信号，所述反馈信号用于指示所述指令发生器已经接收所述第一控制指令。

5.根据权利要求1所述的T组件测试方法，其特征在于，还包括：

获取所述T组件测试仪器测试得到的性能参数，生成数据表格并进行存储。

6.一种T组件测试装置，其特征在于，包括：

第一控制指令发送模块，用于发送第一控制指令给指令发生器，所述指令发生器根据所述第一控制指令分别发送时钟信号、锁存信号和数据信号给待测T组件，使所述待测T组件的移相状态为零；

射频输入信号发送模块，用于控制T组件测试仪器发送射频输入信号给所述待测T组件；

测试模块，用于在所述待测T组件根据所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数。

7.根据权利要求6所述的T组件测试装置，其特征在于，所述测试模块包括：

第二控制指令发送模块，用于发送第二控制指令给所述指令发生器，所述指令发生器根据所述第二控制指令调整所述时钟信号、所述锁存信号和所述数据信号，使所述待测T组件的移相状态为预设移相度数；

性能参数测试模块，用于在所述待测T组件根据所述预设移相度数和所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数。

8.根据权利要求6所述的T组件测试装置，其特征在于，还包括：

第一供电模块，用于控制直流电源为所述指令发生器提供电压；

第二供电模块，用于控制所述指令发生器对所述电压进行降压稳压处理并输送给所述待测T组件。

9.一种T组件测试系统，其特征在于，包括用于控制指令发生器和T组件测试仪器的上位机、用于向待测T组件发送时钟信号、锁存信号和数据信号的指令发生器和用于向待测T组件发送射频输入信号并测试待测T组件性能参数的T组件测试仪器；

所述上位机分别与所述指令发生器和所述T组件测试仪器连接，所述指令发生器与所述待测T组件的低频输入端连接，所述T组件测试仪器分别与所述待测T组件的射频输入端和所述待测T组件的待测输出端连接，所述待测T组件的非待测输出端分别通过负载进行接地。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5任意一项所述T组件测试方法的步骤。