[发明专利]T组件测试方法、装置及系统

说明书

本发明适用于产品测试技术领域，提供了一种T组件测试方法、装置及系统，所述T组件测试方法包括：发送第一控制指令给指令发生器，所述指令发生器根据所述第一控制指令分别发送时钟信号、锁存信号和数据信号给待测T组件，使所述待测T组件的移相状态为零；控制T组件测试仪器发送射频输入信号给所述待测T组件；在所述待测T组件根据所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数。本发明利用指令发生器来控制待测T组件的相位变化，测试精度高，并且可靠稳定，整个测试过程无需纯手动测试，自动化程度高，操作步骤简单，测试效率高，生产成本低。

技术领域

本发明属于产品测试技术领域，尤其涉及一种T组件测试方法、装置及系统。

背景技术

在产品测试技术领域中，搭建的测试系统各式各样，技术指标测试参量要求也不尽相同。在微波组件产品测试中，基本的测试仪器选择主要是根据产品的频段来选择，以节约成本为目的，而测试频段越高，仪器设备的成本越高，同时还需要满足测试精度与可靠稳定性。在Ka频段T组件测试当中，一套测试仪器的费用十分昂贵，生产成本高，现有技术中需要纯手动进行测试，操作步骤繁琐，测试效率低，而且无法满足测试精度与可靠稳定性要求。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种T组件测试方法、装置及系统，以解决现有技术在T组件测试过程中生产成本高，需要纯手动测试，操作步骤复杂，测试效率低，无法满足测试精度与可靠稳定性要求的问题。

本发明实施例第一方面提供了一种T组件测试方法，包括：

发送第一控制指令给指令发生器，所述指令发生器根据所述第一控制指令分别发送时钟信号、锁存信号和数据信号给待测T组件，使所述待测T组件的移相状态为零；

控制T组件测试仪器发送射频输入信号给所述待测T组件；

在所述待测T组件根据所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数。

进一步地，在所述待测T组件根据所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数包括：

发送第二控制指令给所述指令发生器，所述指令发生器根据所述第二控制指令调整所述时钟信号、所述锁存信号和所述数据信号，使所述待测T组件的移相状态为预设移相度数；

在所述待测T组件根据所述预设移相度数和所述射频输入信号输出待测信号给所述T组件测试仪器后，控制T组件测试仪器根据所述待测信号测试所述待测T组件的性能参数。

进一步地，所述T组件测试方法还包括：

控制直流电源为所述指令发生器提供电压；

控制所述指令发生器对所述电压进行降压稳压处理并输送给所述待测T组件。

进一步地，在所述发送第一控制指令给指令发生器之后，还包括：

接收所述指令发生器发送的反馈信号，所述反馈信号用于指示所述指令发生器已经接收所述第一控制指令。

进一步地，所述T组件测试方法还包括：

获取所述T组件测试仪器测试得到的性能参数，并生成数据表格进行存储。

本发明实施例第二方面提供了一种T组件测试装置，包括：

第一控制指令发送模块，用于发送第一控制指令给指令发生器，所述指令发生器根据所述第一控制指令分别发送时钟信号、锁存信号和数据信号给待测T组件，使所述待测T组件的移相状态为零；

射频输入信号发送模块，用于控制T组件测试仪器发送射频输入信号给所述待测T组件；