[发明专利]一种亚像素边缘角度的测量方法、系统、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 201810359329.5 申请日: 2018-04-20
公开(公告)号: CN108876842A 公开(公告)日: 2018-11-23
发明(设计)人: 陈国栋;张仁政;王正;丁梓豪;苏凡;王振华;孙立宁 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: G06T7/60 分类号: G06T7/60;G06T7/11;G06T7/136;G01B11/26
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 罗满
地址: 215104 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请公开了一种亚像素边缘角度的测量方法、系统、设备及存储介质,该测量方法包括:采集标准零件的原始图像,建立测量模型并添加所述原始图像中标准零件边缘的测量区域的分布参数;采集待测零件的目标图像,获取所述目标图像中待测零件边缘的待测区域;将所述待测区域与所述测量区域对齐,提取出所述待测区域的边缘点;利用随机抽样一致性算法对所述待测区域进行边缘拟合,得出所述待测零件的亚像素边缘角度。本申请通过建立的测量模型进行区域对齐,再通过随机抽样一致性算法进行边缘拟合,最终得到亚像素边缘角度,测量模型设定简单,计算量少,提高了测量的精度,并且系统的鲁棒性有所改善,测量效率高。
搜索关键词: 测量 亚像素边缘 待测区域 测量模型 待测零件 一致性算法 标准零件 存储介质 目标图像 区域对齐 随机抽样 原始图像 拟合 采集 测量效率 分布参数 边缘点 计算量 鲁棒性 申请
【主权项】:
1.一种亚像素边缘角度的测量方法,其特征在于,包括:采集标准零件的原始图像,建立测量模型并添加所述原始图像中标准零件边缘的测量区域的分布参数;采集待测零件的目标图像,获取所述目标图像中待测零件边缘的待测区域;将所述待测区域与所述测量区域对齐,提取出所述待测区域的边缘点;利用随机抽样一致性算法对所述待测区域进行边缘拟合,得出所述待测零件的亚像素边缘角度。
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