[发明专利]一种掩膜版及其制造方法有效
申请号: | 201810355950.4 | 申请日: | 2018-04-19 |
公开(公告)号: | CN108649142B | 公开(公告)日: | 2021-04-06 |
发明(设计)人: | 刘孟彬;罗海龙 | 申请(专利权)人: | 中芯集成电路(宁波)有限公司 |
主分类号: | H01L51/56 | 分类号: | H01L51/56;C23C14/04 |
代理公司: | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人: | 高伟;翟海青 |
地址: | 315800 浙江省宁波*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明提供一种掩膜版及其制造方法,包括:衬底,具有相背的第一表面和第二表面,所述衬底内具有贯穿所述衬底的多个开口,所述衬底的材料为能够进行半导体刻蚀工艺的材料;位于所述第一表面的掩膜图形层,所述掩膜图形层的材料为能够进行半导体刻蚀工艺的材料;所述掩膜图形层具有图形区和遮挡区,所述图形区具有至少一个通孔,所述开口暴露出所述图形区,每一所述开口与一所述图形区相对且暴露出图形区中的所有通孔,所述遮挡区位于所述图形区的外侧、与所述衬底相对。该掩膜版的质量高,并且精准度更高,在将所述掩膜版用于有机层的蒸镀工艺时,可以提高有机层的沉积质量,提高后期产品的质量。 | ||
搜索关键词: | 一种 掩膜版 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种掩膜版,其特征在于,包括:衬底,具有相背的第一表面和第二表面,所述衬底内具有贯穿所述衬底的多个开口,所述衬底的材料为能够进行半导体刻蚀工艺的材料;位于所述第一表面的掩膜图形层,所述掩膜图形层的材料为能够进行半导体刻蚀工艺的材料;所述掩膜图形层具有图形区和遮挡区,每一所述图形区具有至少一个通孔,所述开口暴露出所述图形区,每一所述开口与一所述图形区相对且暴露出图形区中的所有通孔,所述遮挡区位于所述图形区的外侧、与所述衬底相对。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
H01L51-05 .专门适用于整流、放大、振荡或切换且并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的电容器或电阻器
H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
H01L51-50 .专门适用于光发射的,如有机发光二极管
H01L51-52 ..器件的零部件
H01L51-54 .. 材料选择
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